Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych

Rutkowski, J.

Artykuł - szczegóły

Tytuł artykułu

Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych

Autorzy

Rutkowski J.

Identyfikatory

Warianty tytułu

Dictionary approach to analog fault diagnosis

Konferencja

Krajowa Konferencja Elektroniki (3 ; 16-18.06.2004 ; Kołobrzeg, Polska)

Języki publikacji

Abstrakty

W artykule omówiono podstawy podejścia słownikowego do diagnostyki analogowych układów elektronicznych zwracając szczególną uwagę na zastosowania metod sztucznej inteligencji.

Basic concepts of analog fault diagnosis by means of the Simulation Before Test (SBT) approach, the so called dictionary approach, have been presented. Special attention has been paid to application of artificial intelligence tools, such as: neural networks, fuzzy sets and evolutionary computing.

Słowa kluczowe

testowanie diagnostyka uszkodzeń analogowy układ elektroniczny

analog fault diagnosis fault dictionary artificial intelligence

Wydawca

Wydawnictwo SIGMA-NOT

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Rocznik

2004

Tom

Vol. 45, nr 12

Strony

33--37

Opis fizyczny

Bibliogr. 36 poz.

Twórcy

autor

Rutkowski J.

Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, Gliwice

Bibliografia

1. [Ali02] C. Alippi, M. Catelani, A. Fort, M. Mugnaini, SBT soft fault diagnosis in analog electonic circuits: a sensitivity-based approach by randomized algotithms, IEEE Trans. Instrum. and Meas., vol. 51, No. 5, Oct. 02, pp. 1116-1125.
2. [Ami02] F. Aminian, M. Aminian, H.W. Collins Jr., Analog fault diagnosis of actual circuits using neural networks, IEEE Trans on Instrumentation and Measurement, vol. 51, No. 3, June 02, pp. 544-550.
3. [Bak96] K. Baker, A. M. Richardson, A. P. Dorey, Mixed signal test techniques, applications and demands, IEE Proc. - Circuits Devices Syst., vol. 143, No. 6. Dec. 1996, pp. 358-365.
4. [Ban85] J. W. Bandler, A. E. Salama, Fault diagnosis of analog circuits, Proc, of the IEEE, vol. 73, Aug. 1985, pp. 1279-1325.
5. [Bur01] M. Burns, G. W. Roberts, An introduction to mixed-signal IC test and measurement, Oxford University Press, New York 2001.
6. [Cat02] M. Catelani, A. Fort, Soft fault detection and isolation in analog circuits: comparison between a fuzzy approach and RBF networks, IEEE Trans, on I. & M., vol. 51, No. 2, Apr. 02, pp. 196-202.
7. [Col94] P. Collins, S. Yu, K. R. Eckersall, B. W. Jervis, I. M. Bell, G. E. Taylor, Application of Kohonen and supervised forced organisation maps to fault diagnosis in CMOS opamps, Electron.Lett. vol. 30, No 22, 1994, pp. 1846-47.
8. [Cza03] Z. Czaja, R. Zielonko, Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces, IEEE Trans, on Instr. and Measurement, vol. 52, No 1, Feb. 2003, pp. 97-102.
9. [Gol02a] T. Golonek, J. Rutkowski, Optymalizacja doboru węzłów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego, Mat. I KK Elektroniki, Kołobrzeg-Dźwirzyno 2002, pp. 289-294.
10. [Gol02b] T. Golonek, J. Rutkowski, Use of evolution strategies to analog testing with time domain stimuli, Proc. III ICSES, Świeradów Zdrój 2002, pp. 307-312.
11. [Gol03] T. Golonek, J. Rutkowski, Application of genetic programming to analog fault decoder design, Proc. ECCTD, Kraków 2003, vol. 2, pp. 113-116.
12. [Grz01] D. Grzechca, J. Rutkowski, Analog fault dictionary - fuzzy set approach, Proc. ECCTD, Helsinki 2001, pp. 249-252.
13. [Grz02] D. Grzechca, J. Rutkowski, Use of neural network and fuzzy logic to time domain analog testing, Proc. Int. Conf. on Neural and Image Processing-ICONIP, Singapore 2002, pp. 2601-2605.
14. [Hoc79] W. Hochwald and J. Bastran, A dc approach for analog fault dictionary determination, IEEE Trans. CAS, vol. 26, July 1979, pp. 523-529.
15. [Hue93] J. L. Huertas, Test and design for testability of analog and mixed-signal IC: theoretical basis and pragmatical approaches, Proc. ECCTD, Davos 1993, H.Dedieu ed., Elsevier, pp. 75-156.
16. [Lee79] J. Lee, S. D. Bedrosian, Fault isolation algorithm for analog electronic systems using the fuzzy concept, IEEE Trans, on CAS, vol. 26, July 1979, pp. 518-522.
17. [Mai97] Y. Maidon, B. W. Jervis, N. Dutton, S. Lesage, Diagnosis of multifaults in analogue circuits using dictionary perceptrons, IEE Proc.-Part G, Cir. Dev. Syst., vol. 144, No. 3,1997, pp. 149-154.
18. [Mil89] L. Milor, V. Visvanathan, Detection of catastrophic faults in analog integrated circuits, IEEE Trans. Computer-Aided Design, vol. 8, Feb. 1989, pp. 114-130.
19. [Mil94] L. Milor, A. L. Sangiovanni-Vincentelli, Minimizing production test time to detect faults in analog circuits, IEEE Trans, on CAD of Integrated CAS, vol. 13, June 1994, pp. 796-813.
20. [Mil98] L. S. Milor, A tutorial introduction to research on analog and mixed-signal circuit testing, IEEE Trans. On CAS, vol. 45, No 10, Oct. 1998, pp. 1389-1407.
21. [Oso00] S. Osowski, Sieci neuronowe do przetwarzania informacji, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000.
22. [Oso95] S. Osowski, J. Herault, P. Demartines, Fault location in analogue circuits using Kohonen neural network, Bulletine Academie Polonaise, vol. 43, No 1, 1995, pp. 125-133.
23. [Oza88] T. Ozawa ed., Computational approaches to fault dictionary in Analog methods for computer-aided circuit analysis and diagnosis, M. Dekker, New York 1988, pp. 325-364.
24. [Pra00] V. C. Prasad, N.S.C. Babu, Selection of test nodes for analog fault diagnosisin dictionary approach, IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 49, No 6, Jun. 2000, pp. 1289-1297.
25. [Rut02] J. Rutkowski, B. Puchalski, Optimum test selection for analog circuits with the use of information channel concept, Proc. ICSES, Świeradów Zdrój 2002, pp. 325-330.
26. [Rut03a] J. Rutkowski, Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, WKiŁ. Warszawa 2003.
27. [Rut90] J. Rutkowski, Zastosowania sieci neuronowych do wykrywania uszkodzeń w obwodach analogowych, Mat. XIII KKTOiUE, Bielsko-Biała 1990, pp. 343-347.
28. [Rut91] J. Rutkowski, Diagnostyka dużych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem metod topologicznych, Zesz. Nauk. Politechniki Śl. Nr. 105, Gliwice 1991.
29. [Rut92] J. Rutkowski, A neural network approach to fault location in nonlinear DC circuits, Proc. Int. Conf. ANN - ICANN, Brighton 1992, North-Holland, I. Alexander & J. Taylor ed., pp. 1123-26.
30. [Rut93] J. Rutkowski, A DC approach for analog fault dictionary determination, Proc. ECCTD, Davos 1993, Elsevier, H. Dedieu ed., pp. 877-880.
31. [Rut94] J. Rutkowski, A two stage n.n. DC fault dictionary, Proc. IEEE ISCAS, London 1994, pp. 299-302.
32. [Sta03] J. A. Starzyk, D. Liu, Z. H. Liu, J. Rutkowski, Entropy-based optimum test point selection for analog fault dictionary techniques, IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 53, No 3, June 2004, pp. 754-760.
33. [Toc01] W. Toczek, Diagnostyka analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem histogramowego słownika uszkodzeń, Elektronizacja, nr 10, 2001, pp. 22-25.
34. [Yan00] Z. R. Yang, M. Zwoliński, Applying a robust heteroscedastic probabilistic neural network to analog fault detection and classification, IEEE Trans. CAD IC & S, vol. 19, No 1, Jan. 2000, pp. 142-151.
35. [Zie88] R. Zielonko, A. Królikowski, Metody pomiarowo-diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, WNT, Warszawa 1988.
36. [Zie96] R. Zielonko, Some theoretical foundations of analog signal shape design for measurement and testing, Measurement, vol. 17, No 1, 1996, pp. 29-37.

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-BWA2-0009-0047