Metody profilowania wiązki diody laserowej

• Autorzy: Kozłowska A. , Maląg A. , Wróbel S.

Warianty tytułu

EN

Beam profiling methods for diode lasers

• Konferencja: Konferencja "Technologia Elektronowa" ELTE '2004 (8 ; 19-22.04.2004, Stare Jabłonki, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaprezentowane zostały dwie metody profilowania wiązki diody laserowej. Metoda goniometryczna pozwala na dokładny pomiar rozkładów kątowych w dwóch ortogonalnych płaszczyznach. Metoda komplementarna bazuje na wykorzystaniu kamery CCD i umożliwia szybkie pomiary rozkładów intensywności diody laserowej w polu dalekim.

EN

Two measurement methods for high-power diode laser's beam profiling have been developed. Goniometric method enables accurate divergence and far-field profile determination. Complementary, CCD camera-based method provides immediate, two-dimensional information about the diode laser intensity distribution in the far-field.

Słowa kluczowe

PL

dioda laserowa; pole dalekie; rozbieżność wiązki; kamera CCD; goniometr

EN

diode laser; far field; beam divergence; CCD camera; goniometric profiler

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 45, nr 10
• Strony: 33--34
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz.

Twórcy

autor

Kozłowska A.

autor

Maląg A.

autor

Wróbel S.

• Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych, Warszawa

Bibliografia

• [1] Dorsch F., Haensel H.: Proc. 4th International Workshop on laser beam and optics characterization, Munich, 16-18.06.1997.
• [2] Kozłowska A., Maląg A.: Proc. SPIE vol. 5120, pp. 178-183, 2002.
• [3] Maląg A., Strupiński W.: J. Crystal Growth, vol. 170, pp. 408-412, 1997.