Sposób sterowania do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych

• Autorzy: Szewczyk A.
• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki (2 ; 9-12.06.2003 ; Kołobrzeg, Polska)
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

system pomiarowy; oprogramowanie sterujące

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2003
• Tom: Vol. 23, nr 11
• Strony: 17--19
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz.

Twórcy

autor

Szewczyk A.

• Politechnika Gdańska, Katedra Aparatury Pomiarowej

Bibliografia

• 1. Chroboczek J. A., Szewczyk A., Piantino G.: Low Frequency Noise Point Probe Measurements on a Wafer Level Using a Novel Programmable Current Amplifier. Mat. konferencyjne INCF'2001 Gainesville, USA (Univ. of Florida) p. 701-704.
• 2. PCI-4451/4452 User Manual, National Instruments, 1998.
• 3. LabVieW User Manuals, National Instruments, 1999.