Prąd zasilania jako wskaźnik diagnostyczny w badaniach kompatybilności elektromagnetycznej cyfrowych układów scalonych

• Autorzy: Kuciński S.
• Języki publikacji: PL
• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2002
• Tom: nr 12
• Strony: 14--17
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys.

Twórcy

autor

Kuciński S.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa

Bibliografia

• 1. Projekt normy IEC 61967-1: Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emission, 150 kHz to 1 GHz. Part 1-6.
• 2. Projekt normy IEC 62132: Integrated Circuits, Measurement of Electromagnetic Immunity, 150 kHz to 1 GHz. Part 1-4.
• 3. Cudoro B.: Etude phenomenologique de la sensibilite des circuits logiques fonctionnant en regime dynamique soumis aux effets induits par des champs electromagnetiques. Docteur de L'Universite. L'Universite des Sciences et Technologies de Lille. 1993.
• 4. Heddebant B., Baudet J., Cudoro B.: Susceptibility of CMOS and HCMOS Integrated Circuits to Transient Disturbing Signals. EMC Zurich Symposium 1993, s. 45-48.
• 5. Kuciński S.: Prądy zasilania w cyfrowych układach scalonych jako wskaźnik diagnostyczny w badaniach ich podatności na zaburzenia elektromagnetyczne. Rozprawa doktorska, Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa 2001.
• 6. Takahata Y., et al: Power Current Model of IC with Internal Impedance. Technical Report of IEICE, EMCJ99-104, December 1999, s. 21-26.
• 7. Gajewski P., Turczyński J.: Cyfrowe układy scalone CMOS. Wydawnictwo Komunikacji i Łączności, Warszawa 1990.
• 8. Kuciński S.: Pomiary prądów zasilania mikrokontrolerów 16-bitowych i analiza statystyczna wyników. Raport badawczy nr 9, Przemysłowy Instytut Elektroniki 2000.