Badania podatności cyfrowych układów scalonych na wielokrotne sygnały impulsowe o małej energii

• Autorzy: Kuciński S.
• Języki publikacji: PL
• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2002
• Tom: nr 10
• Strony: 15--18
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Kuciński S.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa

Bibliografia

• 1. Kołodziejski J., Kuciński S.: Investigation of susceptibility of functional modules and integrated circuits to multiple pulse signals. X International Conference Overvoltages in power electronic and computer engineering". Holny Mejera (Poland) Dubingiai (Lithuania), 13-14 October 1999, s. 103-116. 2. Kołodziejski J.: Problemy oceny zakłóceń w cyfrowych układach scalonych Prace ITE-CEMI, zeszyt 7/8, 1989. PWN, Warszawa 1989.
• 3. Koszmider A., Lutz M., Nedtwig J.: Certyfikat CE - Praktyczny poradnik w zakresie kompatybilności elektromagnetycznej. Wydawnictwo WEKA Sp. z o. o.
• 4. Bem D.J. i inni: Impulsowe narażenia elektromagnetyczne. Wydawnictwo Politechniki Wrocławskiej. Wrocław 1994.
• 5. White D., et al: A Handbook Series on Electromagnetic Interference and Compatibility. Volume 5: EMC in Components and Devices. Interference Control Technologies, Inc. Gainesville, Virginia.
• 6. Kornacki W., Kuciński S.: Badania niezawodności układów scalonych poddawanych zespolonym narażeniom środowiskowym. Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki, nr 128/1997.
• 7. Norma PN-EN 61000-4-2:1999-Kompatybilność elektromagnetyczna (EMC). Metody badań i pomiarów. Badanie odporności na wyładowania elektrostatyczne.
• 8. Norma PN-EN 61000-4-4: 1999 - Kompatybilność elektromagnetyczna (EMC). Metody badań i pomiarów. Badanie odporności na serie szybkich elektrycznych stanów przejściowych.
• 9. Projekt normy IEC 61967: Integrated Circuits. Measurement of Electromagnetic Emissions, 150 kHz to 1 GHz. Part 1: General and definitions.
• 10. Kuciński S.: Prądy zasilania w cyfrowych układach scalonych jako wskaźnik diagnostyczny w badaniach ich podatności na zaburzenia elektromagnetyczne. Rozprawa doktorska. Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa 2001.