Mikroskopia sił atomowych "Shear force" z interferencyjną detekcją ostrza skanującego

• Autorzy: Sikora A. , Sankowska A. , Gotszalk T. P. , Radojewski J. , Szeloch R. F.
• Języki publikacji: PL
• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2002
• Tom: nr 9
• Strony: 11--12
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys.

Twórcy

autor

Sikora A.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Sankowska A.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Gotszalk T. P.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Radojewski J.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Szeloch R. F.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

Bibliografia

• 1. Gotszalk T., Sankowska A., Orawski W., Wasilewski R., Radojewski J.: Zastosowanie interferomentu światłowodowego do detekcji przesunięcia ostrza pomiarowego mikroskopu sił atomowych. Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. Mat. V Konferencji Naukowej COE'98, s. 209-212.
• 2. Gotszalk T., Pędrak R., Sankowska A., Orawski W., Janus P.: Interferometr światłowodowy do detekcji ruchu włókna pomiarowego w mikroskopie sił atomowych Shear force. VII Konferencja Światłowody i ich zastosowania, Krasnobród 1999, t. II, s. 432.
• 3. Gotszalk T., Pędrak R., Sankowska A., Radojewski J., Grabiec P.: Modularna mikroskopia pojemnościowa i sił atomowych Shear force. Mat. VII Konferencji Naukowej ELTE 2000, 1247.
• 4. Janus P., Pędrak R., Gotszalk T., Radojewski J.: Zaawansowane procedury wizualizacji danych pomiarowych w mikroskopii skanującej. Mat VII Konferencji Naukowej ELTE 2000, 1321.

Uwagi

Prace realizowane ze środków projektu badawczo-naukowego KBN nr 7 T11B 064 21.