Zastosowanie mikroskopii bliskich oddziaływań w pomiarach geometrii nanostruktur

• Autorzy: Marendziak A. , Gotszalk T. , Sankowska A. , Radojewski J. , Szeloch R.
• Języki publikacji: PL
• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2002
• Tom: nr 7-8
• Strony: 51--53
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz.

Twórcy

autor

Marendziak A.

• Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej

autor

Gotszalk T.

• Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej

autor

Sankowska A.

• Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej

autor

Radojewski J.

• Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej

autor

Szeloch R.

• Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej

Bibliografia

• 1. Gotszalk T., Grabiec P., Rangelow I. W.: Piezoresistive sensors for scanning probe microscopy. Ultramicrocopy 82, 2000, s. 39-48.
• 2. Radojewski J., Gotszalk T.: Zastosowanie światłowodów w optycznym skaningowym mikroskopie tunelowym (PSTM). Mat. IV Konferencji Naukowej „Technologia i Zastosowania Światłowodów, Krasnobród'96, T. 2, s. 77-80.
• 3. Gotszalk: T., Sankowska A., Orawki W., Wasielewski R., Radojewski J.: Zastosowanie interferometru światłowodowego do detekcji przesunięcia ostrza pomiarowego mikroskopu sił atomowych. Mat. V Konferencji Naukowej COE'98. 209-212.