Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Methods of analysis of results of testing of digital integrated circuits electromagnetic disturbances susceptibility
Języki publikacji
Abstrakty
Słowa kluczowe
Wydawca
Rocznik
Tom
Strony
18--21
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., wykr.
Twórcy
autor
- Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa
Bibliografia
- 1. Seria norm PN-EN 61000-4: Kompatybilność elektromagnetyczna (EMC). Metody badań i pomiarów: Cz. 2 - Badanie odporności na wyładowania elektrostatyczne, Cz. 3 - Badanie odporności na pole elektromagnetyczne o częstotliwości radiowej, Cz. 4 - Badanie odporności na serie szybkich elektrycznych stanów przejściowych, Cz. 5 - Badanie odporności na udary, Cz. 6 - Badanie odporności na zaburzenia przewodzone, indukowane przez pola o częstotliwości radiowej.
- 2. Cudoro B.: Etude phenomenologique de la ensibilite de circuits logiques fonctionnant en regime dynamique soumis aux effets induits par des champs electromagnetique. Docteur de L'Universite. L'Universite des Science et Technologies de Lille. 1993.
- 3. Chappel J. F., Zaky S.: EMI - Induced Delay in Digital Circuits Application. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 1992. 449-454.
- 4. Kuciński S.: Prądy zasilania w cyfrowych układach scalonych jako wskaźnik diagnostyczny w badaniach ich podatności na zaburzenia elektromagnetyczne. Rozprawa doktorska. Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa 2001.
- 5. Bendat J., Piersol A.: Metody analizy i pomiaru sygnałów losowych. PWN, Warszawa 1976.
- 6. Lyons R. G.: Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów. WKiŁ , Warszawa 1999.
- 7. Kuciński S.: Pomiary prądów zasilania mikrokontrolerów 16-bitowych i analiza statystyczna ich wyników. Raport badawczy nr 9, Przemysłowy Instytut Elektroniki, wrzesień 2000.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA2-0005-0273