Metoda testowania wbudowanych układów analogowych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali IEEE Std 1149.4

• Autorzy: Borkowska M.

Warianty tytułu

EN

In-circuit analog integration circuits testing using mixed-signal IEEE Std 1149.4 bus

• Języki publikacji: PL
• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2001
• Tom: nr 10
• Strony: 17--19
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz.

Twórcy

autor

Borkowska M.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki