Algorytm generowania testu dla układów cyfrowych o nieznanej strukturze wewnętrznej

• Autorzy: Arciuch A.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono metodę i algorytm do generowania testów dla układów cyfrowych o nieznanej strukturze wewnętrznej. Cechą charakterystyczną zaproponowanego algorytmu jest skrócenie sekwencji testowej bez pogorszenia jakości testowania. Test otrzymany w wyniku działania algorytmu jest nieredukowalnym testem kontrolnym.

Słowa kluczowe

PL

metoda do generowania testu; algorytm generowania testu

• Wydawca: Instytut Teleinformatyki i Automatyki, Wydział Cybernetyki, Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
• Czasopismo: Biuletyn Instytutu Automatyki i Robotyki
• Rocznik: 2001
• Tom: R. 7, nr 16
• Strony: 35--49
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz.

Twórcy

autor

Arciuch A.

• Zakład Systemów Komputerowych, Instytut Automatyki i Robotyki WAT, ul. S. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa

Bibliografia

• [1] Kulesza R.: Podstawy diagnostyki sieci logicznych i komputerowych, IAiR, WAT, Warszawa, 2000
• [2] Kulesza R.: Niektóre teoretyczne podstawy tablicowych metod wyznaczania testów diadnostycznych, Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki nr 106, Warszawa, 1988
• [3] Sapiecha K.: Testowanie i diagnostyka systemów cyfrowych, PWN, Warszawa, 1987
• [4] Arciuch A.: Stanowisko laboratoryjne do testowania układów PLD z wykorzystaniem magistrali diagnostycznej IEEE 1149.1 (praca magisterska) WAT, Warszawa, 1999