Synthesis and characterization of C10- and C16MCM-41 materials

• Autorzy: Choma J. , Jaroniec M. , Burakiewicz-Mortka W. , Michalski E. , Kloske M.

Warianty tytułu

PL

Synteza i charakterystyka materiałów C10- i C16- MCM-41

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The good quality MCM-41 materials were synthesized using tetraethoxysilane (TEOS) as silica source and C10 and C16 alkyltrimethylammonium bromide surfactants as templates. It is shown that the extension of time of the hydrothermal treatment process could be beneficial for improving the quality of the resulting MCM-41 samples. This approach seems to be especially useful for synthesis of the MCM-41 samples using surfactants with short alkyl chains, e.g., chain with ten carbon atoms. The power X-ray diffraction (XRD) studies showed the presence of hexagonally ordered mesopores. Nitrogen adsorption isotherms confirmed a global nature of the structure ordering. The Fourier-transform infrared spectra recorded for surfactants, TEOS and the MCM-41 samples before and after calcination were used to characterize the final samples and to monitor the removal of the surfactant template from mesopores.

PL

Syntezowano wysokiej jakości materiały MCM-41 używając tetraetoksysilanu (TEOS) jako źródło żelu krzemionkowego oraz surfaktanty C10 i C16 alkiloamoniowe jako matryce. Pokazano, że wydłużenie czasu obróbki hydrotermicznej syntezowanych materiałów pozwala otrzymać wysokiej jakości MCM-41. Dotyczy to szczególnie surfaktantu o krótkim C10 łańcuchu alkilowym. Za pomocą dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego wykazano istnienie heksagonalnie uporządkowanych mezoporów. Izotermy adsorpcji azotu potwierdziły globalną naturę tego uporządkowania. Zmierzono widma w podczerwieni dla surfaktantów, TEOS oraz dla MCM-41przed i po kalcynacji i użyto ich do charakterystyki ostatecznych materiałów oraz do kontroli procesu usuwania surfaktantu z mezoporów.

Słowa kluczowe

EN

MCM-41 materials; synthesis; adsorption; XRD; FTIR

PL

materiały MCM-41; synteza; charakterystyka adsorpcji; XRD; FTIR

• Wydawca: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
• Czasopismo: Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
• Rocznik: 2001
• Tom: Vol. 50, nr 10
• Strony: 5--14
• Opis fizyczny: Bibliogr. 20 poz.

Twórcy

autor

Choma J.

autor

Jaroniec M.

autor

Burakiewicz-Mortka W.

autor

Michalski E.

autor

Kloske M.

• MilitaryTechnical Academy, Institute of Chemistry, 2 Kaliskiego Str., 00-908 Warsaw