Problem weryfikacji mikroanalizatorów wykorzystywanych do diagnozowania współczesnych systemów cyfrowych

• Autorzy: Kern J.

Warianty tytułu

EN

A verification of microanalysers for the modern digital system diagnosis

• Języki publikacji: PL
• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2001
• Tom: nr 4
• Strony: 6--10
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz.

Twórcy

autor

Kern J.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki

Bibliografia

• 1. Bleeker H., Eijnden P., De Jong F.: Boundary-Scan Test, A Practical Approach. Kluwer Academic Publishers, 1993, the Netherlands.
• 2. IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture. Sponsored by the Test Technology Technical Committee of the IEEE Computer Society, Published by the IEEE, New York, May 21, 1990.
• 3. Kern J.: Architecture and some properties of digital circuits with Boundary Scan. International Conference of Microelectronics'92, Warszawa, wrzesień 1992.
• 4. Turino J.: Design to Test. Second Edition; Van Nostrand Reinhold, New York.
• 5. Hławiczka A. i inni: Łatwo testowalne układy i pakiety cyfrowe. WNT, Warszawa, 1993.
• 6. Maunder C.: Boundary Scan: An End-of-Term Report (IEEE Std 1149.1 Survey Results), IEEE Design & Test of Computers, June 1992, s. 82–85.
• 7. Kern J.: System testowania układów z portem testowym – STUPT. Prace PIE, z. 123, Warszawa, 1995, ss. 40–63.
• 8. Kern J.: System do badania mikroukładów scalonych z brzegową ścieżką testującą. Materiały VI Konf. Nauk. „Technologia Elektronowa”, Krynica 1997, ss. 551–555.
• 9. Badźmirowski K., Kern J.: The issue of diagnosis quality applied to a built-in, dispersed system of digital signal microanalyzers equipped with standard test ports. IMTC/99 16TH IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference. Venice, Italy, May 24–26, 1999, ss. 220–224.
• 10. Kern J.: Analiza niektórych aspektów diagnozowania współbieżnego cyfrowych systemów pomiarowo-kontrolnych. Prace PIE, z. 136, 1999, ss. 5–61.
• 11. XC4000 Series technical Information, Application Note XAPP 045. Nov. 1997, ss. 1315–1318.