Investigation of multiple degradation and rejuvenation cycles of electroluminescent thick film structures

• Autorzy: Mroczkowski M. , Cież M. , Kalenik J.

Warianty tytułu

PL

Badanie powtarzanych cykli degradacji i regeneracji grubowarstwowych struktur elektroluminescencyjnych

• Konferencja: 35th International Microelectronics and Packaging IMAPS - IEEE CPMT Poland Conference ; 21-24.09. 2011 ; Gdańsk Sobieszewo, Poland
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

An attempt to investigate the possibility of repeated rejuvenation of degraded electroluminescent (EL| lamps was undertaken. A set of samples of EL lamps with ZnS:Cu phosphor was fabricated. First, each of these samples worked for a period of time, driven by square voltage. After this process of degradation, samples were annealed in order to rejuvenate them. Such cycles of degradation and rejuvenation were repeated twice. Several parameters of investigated structures were estimated. Measurements were performed after fabrication of test samples, after degradation and after annealing. Luminance of EL lamps driven by voltage of different value of frequency was measured. Capacitance of these samples was measured to estimate the influence of changes in insulator layer of EL lamps on changes of luminance. Also an attempt to investigate the influence of degradation and rejuvenation on emission spectrum of electroluminescent thick film structures was undertaken.

PL

W ramach badań podjęto próbę wykonania wielokrotnej regeneracji zdegradowanych struktur elektroluminescencyjnych. Do tego celu został przygotowany zestaw testowych grubowarstwowych źródeł światła. Najpierw te źródła światła zostały zdegradowane przez starzenie przy zasilaniu napięciem prostokątnym. Następnie próbki wygrzano celem ich regeneracji. Taki cykl degradacji i regeneracji został wykonany dwukrotnie. Zmierzono wybrane parametry badanych struktur. Pomiary zostały wykonane po przygotowaniu próbek, po ich degradacji i po regeneracji. Zmierzono luminancję struktur zasilanych napięciem prostokątnym o różnej częstotliwości. W celu określenia wpływu zmian w warstwie izolacyjnej na luminancję struktury, zamierzono pojemność próbek. Dodatkowo, podjęto próbę określenia wpływu degradacji i regeneracji na widmo emisyjne elektroluminescencyjnych struktur grubowarstwowych.

Słowa kluczowe

EN

ZnS; AC electroluminescence; EL lamps; ACEL; thick films

PL

ZnS; elektroluminescencja wewnętrzna; struktury elektroluminescencyjne; ACEL; warstwy grube

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2012
• Tom: Vol. 53, nr 1
• Strony: 39--40
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., wykr.

Twórcy

autor

Mroczkowski M.

autor

Cież M.

autor

Kalenik J.

• Politechnika Warszawska, Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki

Bibliografia

• [1] Stanley J., Yu Jiang, Bridges F., Carter S. A., Ruhlen L.: Degradation and rejuvenation studies of AC electroluminescent ZnS:Cu,Cl phosphors. J. Phys.: Condens. Matter, 22, 2010, pp. 055301.
• [2] Hirabayashi K., Kozawaguchi H., Tsujiyama B.: Study on A-C Powder EL Phosphor Deterioration Factors. J. Electrochem. Soc., 130, 1983, pp. 2259-2263.
• [3] Lehmann W.: Hyper-Maintenance of Electroluminescence. J. Electrochem. Soc., 113, 1966, pp. 40-42.
• [4] Fischer A. G.: Electroluminescent Lines in ZnS Powder Particles. J. Electrochem. Soc., 110, 1963, pp. 733-748.
• [5] Porada Z., Cież M.: Model matematyczny opisujący wpływ procesów starzeniowych na parametry elektroluminescencyjne struktur grubowarstwowych. Elektronika, Vol. LI, No. 6, 2010, pp. 123-125.