Metrologia kwantowa : czym jest?

• Autorzy: Nawrocki W.

Warianty tytułu

EN

Quantum Metrology : What is it?

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Metrologia kwantowa obejmuje zagadnienia teoretyczne, jak niepewność pomiaru według zasady Heisenberga, oraz urządzenia techniczne- kwantowe wzorce i przyrządy pomiarowe o największej czułości. Metrologia kwantowa daje pod stawową wiedzę przy tworzeniu nowego systemu miar - kwantowego systemu Sl. W artykule opisano stosowane wzorce kwantowe. Wskazano także na kierunki rozwoju metrologii kwantowej.

EN

The quantum metrology embraces such theoretical problems, as the uncertainty of the measurement according to the Heisenberg's Uncertainty Principle, and technical devices, quantum standards and measuring instruments about the extreme sensitivity. Trie quantum metrology brings basic knowledge for establishing a new system of units. In the paper directions for a progress in quantum metrology are shown.

Słowa kluczowe

PL

metrologia kwantowa; wzorce kwantowe; nowy system miar

EN

quantum metrology; quantum standard; new system of units

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2011
• Tom: Vol. 52, nr 6
• Strony: 11--13
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz.

Twórcy

autor

Nawrocki W.

• Politechnika Poznańska, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji

Bibliografia

• [1] Piotrowski J., Kostyrko K.: Wzorcowanie aparatury pomiarowej. Warszawa, Wydawnictwo Naukowe PWN, 2000.
• [2] Zasoby Internetu, http://www.bipm.org
• [3] Nawrocki W.: The Quantum SI - towards the new system of units. Metrology and Measurement Systems, vol. 17 (2010), 139-150.
• [4] Josephson B. D.: Possible new effects in superconducting tunneling. Physics Letters, vol. 1 (1962), 251-263.
• [5] von Klitzing K., Dorda G., Pepper M.: New method for high-accuracy determination of fine-structure contact based on quantized Hall resistance. Physical Rev. Lett., 1980, vol. 45, 494-497.
• [6] Delahaye F., Witt T. J., Jeckelmann, Jeanneret B.: Comparison of quantum Hall effect resistance standards of the OFMET and BIPM. Metrologia, 1996, vol. 32, 385-388.