Zagadnienie integralności sygnałowej cyfrowych układów elektronicznych i pomiary jakości połączeń sygnałowych

• Autorzy: Kern J.

Warianty tytułu

EN

The signal integrity problem in electronic systems and the signal connections quality measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia podstawowe aspekty zagadnienia integralności sygnałowej układów elektronicznych i pomiarów, stosowanych dla weryfikacji integralności sygnałowej w projektowanych i wykonywanych wysokoczęstotliwościowych cyfrowych układach elektronicznych. Podjęto również problem integralności sygnałowej elementów pomiarowych łączących badane obiekty z układami pomiarowymi, takich jak sondy i adaptery pomiarowe. Opisano przykładową metodę pomiaru charakterystyk amplitudowo-częstotliwościowych sondy mikroanalizatora diagnostycznego, opracowanego w celu wbudowywania w profesjonalne systemy cyfrowe. Jako współczesną tendencję przedstawiono ogólną architekturę mikro-testera integralności sygnałowej wbudowywanego w specjalizowany mikroukład.

EN

The paper presents general aspects of the signal integrity in electronic systems and measurements, used for verification of signal integrity in designed and manufactured high frequency electronic systems. As well, there is taken up the signal integrity problem of measurement components, connecting tested items with measurement systems, like probes and measurement adapters. There is also presented, as an example, the method of amplitude-frequency characteristic measurement of the microanalyzer probe, designed for built-in the professional digital systems. As an actual tendency, the author described the general architecture of some signal integrity micro-tester built-in the specialized microchip.

Słowa kluczowe

PL

integralność sygnałowa; system pomiarowy; sonda pomiarowa; testery wbudowane

EN

signal integrity; measurement system; measurement probe; built-in testers

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2008
• Tom: Vol. 49, nr 12
• Strony: 82--86
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys.

Twórcy

autor

Kern J.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

Bibliografia

• [1] Johnson H. W., Graham M.: High-Speed Digital Design, A Handbook of Black Magic. Prentice Hall, 1993.
• [2] Chen R. Y.: Signal Integrity, Chapter 14, [e-mail]
• [3] Bogatin E.: Signal Integrity is in Your Future-Chapter 1. www.BogatinEnterprises.com
• [4] Bogatin E.: A High-Bandwith Probing Plan, www.BogatinEnterprises.com
• [5] Kern J.: Analiza wybranych aspektów diagnozowana współbieżnego cyfrowych systemów pomiarowych, Prace PIE nr 136, 1999.
• [6] Designer's Companion to verify signal integrity, www.tektronix.com/signal_integrity; Tektronix 2004.
• [7] 8 Hints for Solving Common Debbuging Problems with Your Logic Analyzers, Application Note 1326, Agilent Technologies Inc, 2007.
• [8] Kern J., Badźmirowski K.: The issue of diagnosis guality applied to a built-in, dispersed system of digital signal microanalyzers equipped with standard test ports, IMTC/99 16TH IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference. Venice, Italy, May 24-26, 1999, ss. 220-224.
• [9] Kern J.: Metoda pomiaru charakterystyki amplitudowo-częstotliwościowej układu sondy analizatora sygnałów cyfrowych, Metrologia i Systemy Pomiarowe, nr 3/2000.
• [10] Nourani M., Attarha A.: Signal Integrity: Fault Modeling and Testing in High-Speed SoCs. Nourani, [e-mail]