Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo

• Autorzy: Toczek W.

Warianty tytułu

EN

Built-In Self-Test scheme for analog and mixed-signal circuits

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy dokonano przeglądu technik realizacji testerów wbudowanych (BISTów) dla układów analogowych i mieszanych sygnałowo. Omówiono koncepcję źródeł sygnałów testujących opartą na modulacji Σ∆, testowanie za pomocą technik CPS, histogramową metodę analizy odpowiedzi przetwornika A/C, wykorzystanie sumy kontrolnej w macierzach równania stanu i oscylacyjne metody testowania.

EN

The paper presents a survey of recent works focused on techniques that have been proposed for making analog and mixed-signal circuits self-testable. Several Techniques for implementing Built-In Self-Test schemes: Σ∆ based signal generation, DSP - based testing, histogram testing of A/Ds, continous checksum method and oscillation test methods are described.

Słowa kluczowe

PL

testery wbudowane (BIST) w układ scalony

EN

Bult-It Self-Test scheme

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2002
• Tom: Vol. 43, nr 6
• Strony: 34--37
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Toczek W.

• Katedra Miernictwa Elektronicznego, Wydział ETI PG,

Bibliografia

• 1. Burns M., Roberts G. W.: An introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement. Oxford University Press, 2001.
• 2. Roberts G. W., Lu A. K.: Analog signal generation for built-in selftest of mixed-signal integrated circuits. Kluwer, 1995.
• 3. Cota E. i in.: Reuse of Existing Resources for Analog BIST of a Switch Capacitor Filter. DATE'2000, Paris, pp. 226-230, 2000.
• 4. Lu A. K., Roberts G. W., Johns D. A.: High quality analog oscillator using oversampling D/A conversion techniques. IEEE Trans. Circuits Syst. II, vol. 41, pp. 437-444, 1994.
• 5. Dufort B., Roberts G. W.: On-Chip Analog Signal Generation for Mixed-Signal Built-In Self-Test. IEEE Journal of Solid-State circuits, Vol. 34, No. 3, pp. 318-330, 1999.
• 6. Plassche R.: Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. WKŁ, Warszawa 2001.
• 7. Integrated Measurement Systems, Inc.www.fluence.com.
• 8. Ohletz M. J.: Hybrid Build In Self Test (HBIST) for Mixed Analog/Digital Integrated Circuits. Proc. European Test Conference, Munich, pp. 307-316, 1991.
• 9. Toner M. F., Roberts G. W.: A BIST scheme for an SNR, gain tracking, and frequency response test of a sigma-delta ADC. IEEE trans. On Circuits and Systems-II, vol. 41, No. 12, pp. 1-15, 1995.
• 10. Toner M. F., Roberts G. W.: A Frequency Response, Harmonie Distortion, and Intermodulation Distortion Test for BIST of a Sigma-Delta ADC, IEEE Trans. Circuits and Systems II, Vol. 43, No. 8, pp. 608-613, 1996.
• 11. Renovell M., Azais F., Bertrand Y.: On-chip signature analyser for analogue circuit testing. Electronic Letters, Vol. 32, No. 24, 1996.
• 12. Chatterjee A., Kim B., Nagi N.: DC Built-In Self-Test for Linear Analog Circuits. IEEE Design & Test of Computers, pp. 26-32, Summer 1996.
• 13. Arabi K., Kamińska B.: Oscillation Built-In SelfTest (OBIST) Scheme for Functional and Structural Testing of Analog and Mixed-Signal Integrated Circuits. Proc. IEEE International Test Conference, pp. 786-795, 1997.
• 14. Ihs H., Arabi K., Kamińska B.: Testing Digital to Analog Converters Based on Oscillation-Test Strategy Using Sigma-delta Modulation. Proc. Int. Conference on Computer Design, 1998.
• 15. Toczek W., Zielonko R.: A measuring system for fault detection via oscillation. XVI IMEKO World Congress, Vol. 6, pp. 287-292, 2000.