Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools

• Autorzy: Chobola Z. , Růžička Z. , Hasse L.

Warianty tytułu

PL

Szumy małoczęstotliwościowe oraz niestacjonarna spektroskopia głębokich poziomów defektowanych (DLTS) jako narzędzia charakteryzowania krzemowych ogniw słonecznych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents the results of DLTS measurements for 1mm ²-sized specimens which have been cut from silicon solar cells showing considerable inhomogeneity as detected by means of the LBIV method. Transport and noise characteristics hace been also measured for these specimens.

PL

W artykule przedstawiono wyniki pomiarów niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów defektowych (Deep Level Transient Spectroscopy - DLTS) dla próbek w wymiarach 1 mm ² uzyskanych z krzemowych ogniw słonecznych. Ogniwa wykazywały znaczną niejednorodność, co stwierdzono za pomocą metody polegającej na wytwarzaniu napięcia wzbudzonego wiązką światła (Light Beam Induced Voltage - LBIV). Dla próbek tych zmierzono również charakterystyki statyczne oraz szumowe.

Słowa kluczowe

EN

solar cells; DLTS; noise; reliability

PL

krzemowe ogniwa słoneczne; szumy; niejednorodność materiału

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2002
• Tom: Vol. 43, nr 6
• Strony: 32--33
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Chobola Z.

autor

Růžička Z.

autor

Hasse L.

• Brno University of technology, Faculty of Civil Engineering, Physics Departament,

Bibliografia

• 1. J. Dubon and C. Osterwald: Noise Spectral Density as a Device Reliability Estimator, Solar Cells, Vol. 1 (1979/1980), pp. 315-319.
• 2. Ibrahim and Z. Chabola: Temperature Dependence of 1/f Noise and Transport Characteristics as a Non-Destructive Testing of a monocrystalline Silicon Solar Cells, Proc. 15th World Cant. on Non-Destructive Testing, Roma, Italy, 15-21 October 2000, p. 235.
• 3. P. Hruska, Z. Chabola, L. Pazdera, V. Jurankova and J. Sikula: Analysis of Solar Cell Transport Properties, Proc. Int. NODITO Workshop on Noise and Reliability of Semiconductor Devices, Brno, CZ, 18-20 July 1995, p. 216-219.
• 4. Z Chobola: lmpulse noise in silicon solar cells. Microelectronics Journal, Vol. 32, No. 9 (2001), pp. 707-711.
• 5. Chabola Z., Ibrahim A.: Noise and scanning, by local illumination as reliability estimation for silicon solar cells. Fluctuations and Noise Letters, Vol. 1, No. 1, (2001), pp. L21-L26.