Analiza profilowa mikro- i nanocząsteczek pyłów i dymów

• Autorzy: Konarski P. , Iwanejko I. , Mierzejewska A. , Ćwil M.

Warianty tytułu

EN

Depth profile analysis of welding fume micro- and nanoparticles

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Cząstki pyłów i dymów spawalniczych badano stosując technikę trawienia jonowego w spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS). Drobiny były zbierane w trakcie prowadzenia procesów spawania stali trzema różnymi technikami: metodą wiązki elektronowej (E), w osłonie argonowej (TIG) oraz elektrodą otuloną (EO). Badano drobiny o średnicach poniżej 100 μm, zebrane w komorze próżniowej a także o średnicach 300 nm - 400 nm pobrane przez dziewięciostopniowy kolektor pytów typu impaktor w trakcie spawania TIG i EO.

EN

Welding fume particles were analysed using low energy ion erosion in secondary ion mass spectrometry (SIMS). The particles were collected during welding process of steel performed with three different techniques: electron beam welding (EBW), tungsten inert gas welding (TIG) and shielded metal arc welding (SMAW). 300 nm - 400 nm diameter fraction of particles emitted into atmosphere was separated using nine-stage impactor. Ion erosion of particles was performed with 2 keV, 100 μm diameter, Ar+ ion beam. The results show that all three types of particles have core-shell morphology. Particles formed in vacuum (EBW) have shell enriehed in oxygen, fluorine, chlorine, and potassium, with respect to the core composed mainly of iron, chromium and manganese. TIG particles are more oxidised than EBW particles. Chlorine and fluorine dominate in the shell however their concentration in the core is higher than in EBW particles. SMAW particles are oxidised much more than two other types of particles. Shell is reach of chlorides, fluorides and potassium while the core is composed mainly of iron, chromium and manganese oxides.

Słowa kluczowe

PL

cząstki pyłów spawalniczych; spektrometria mas jonów wtórnych (SIMS); nanocząstki; morfologia rdzeń-warstwa; analiza profilowa

EN

welding fume particles; secondary ion mass spectrometry (SIMS); nanoparticles; core-shell morphology; depth profile analysis

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2002
• Tom: Vol. 43, nr 12
• Strony: 42--45
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Konarski P.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki (ITP-OBREP), Warszawa

autor

Iwanejko I.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki (ITP-OBREP), Warszawa

autor

Mierzejewska A.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki (ITP-OBREP), Warszawa

autor

Ćwil M.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki (ITP-OBREP), Warszawa

Bibliografia

• 1. Peters A., Skorkovsky J., Kotesovec F., Brynda J., Spix C., Wichmann H. E., and Heinrich J., Environ. Health Perspect. 2000: 108; 283.
• 2. Suess D. T., Prather K. A., Chem Rev 1999: 99; 3007.
• 3. Jambers W, De Back L, Van Grieken R. Analyst 1995: 120; 681.
• 4. Bentz J. W. G, Goschnick J, Schuricht J Ache H. J Fresenius J Anal Chem 1995: 353; 559.
• 5. Konarski P, Iwanejko I, Mierzejewska A, Diduszko R. Vacuum, 2001: 63; 679.
• 6. Tandon R K, Payling R, Chenhall B E, Crisp P T, Ellis J, Baker R S, Appl. Surf. Sci. 1985; 20: 527.
• 7. Minni E, Hofmann S, Sivonen S J, Surf. Interf. Anal. 1990; 16: 563.
• 8. Satoh H, Owari M, Nihei Y. JVac Sci Technol 1988: B6; 915.
• 9. Konarski P, Kaufman E, Ignaciuk R; Elektronika - Pr. Nauk. Polit. Warsz. 1999: 123; 161.
• 10. Konarski P., Iwanejko I., SIMS XII, Edited by: A. Benninghoven, et al., Elsevier, 2000 p. 981.
• 11. Konarski P., lwanejko I., Mierzejewska A., Wymysłowski A. Vacuum, 2001: 63; 685.