System do pomiarów ostrzowych fotodiod lawinowych TeOFiL 2001

• Autorzy: Wójcik J. , Zając J. , Zaremba G.

Warianty tytułu

EN

Automatic system dedicated to testing semiconductor wafers containing avalanche photodiodes TeOFiL 2001

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Omówiono specyficzne właściwości fotodiod lawinowych, stosowane procedury ich pomiarów i unikalne rozwiązania zastosowane w oprogramowaniu systemu.

EN

Features of the automatic system dedicated to testing semiconductor wafers containing avalanche photodiodes are presented. The paper contains descriptions of specific features of such photodiodes and used test methods. Main features of measurement devices used in the system and unique solutions applied in control software are described.

Słowa kluczowe

PL

systemy pomiarowe; pomiary fotodetektorów; fotodiody lawinowe

EN

measurement systems; measurement of photodetectors; avalanche photodiodes

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2002
• Tom: Vol. 43, nr 12
• Strony: 5--8
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Wójcik J.

autor

Zając J.

autor

Zaremba G.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa,

Bibliografia

• 1. I. Węgrzecka: Konstrukcja krzemowych fotodiod lawinowych - Elektronika 12/96, Wydawnictwo SIGMA NOT, ss 1O÷11
• 2. I. Węgrzecka i in: Technologia krzemowych fotodiod lawinowych - Elektronika 12/96, Wydawnictwo SIGMA NOT, ss 12÷13
• 3. I. Węgrzecka i in.: Właściwości krzemowych fotodiod lawinowych - Elektronika 12/96, Wydawnictwo SIGMA NOT, ss 14÷15
• 4. I. Węgrzecka: Krzemowe fotodiody lawinowe Nagroda Mistrz Techniki Warszawa 1996 - Elektronika 12/96, Wydawnictwo SIGMA NOT, ss 5÷8