Nonspecular X-ray diffraction from multilayered systems: an influence of the in-plane coherence of sublayers

• Autorzy: Chocyk D. , Gładyszewski G. , Labat S. , Gergaud P. , Thomas O.

Warianty tytułu

PL

Niezwierciadlane rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego w układach wielowarstwowych: wpływ koherencji warstw w płaszczyźnie próbki

• Konferencja: Trzecie Polsko-Francuskie Sympozjum w zakresie nauki, techniki i zastosowań próżni ; 18-19.05.2000 ; Warszawa, Polska
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The experimental large-angle nonspecular x-ray diffraction (NXRD) profiles measured for multilayered systems are strongly dependent on structure perfection. We used the Monte Carlo simulation for calculating the NXRD profiles and to study the influence of a variety of structural parameters on diffraction profiles for Au(111)/Ni(111) and Au(001/Ni(001) multilayers. We show that differences in profiles can be attributed to a different degree of loss of the in-plane coherence between neighboring sublayers.

PL

Widma eksperymentalne wysokokątowego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego w układach wielowarstwowych bardzo silnie zależą od jakości badanych struktur. Mogą się znacznie różnić nawet dla supersieci składających się z tych samych materiałów. Jedną z najbardziej znaczących różnic jest to, że widma zmierzone w pewnych przypadkach składają się z układu wielu wierzchołków satelitarnych, natomiast w innych zawierają tylko jeden wierzchołek. Podjęcie próby ustalenia przyczyny powstawania tej różnicy było celem niniejszej pracy. W pracy zastosowano trójwymiarowy model, oparty na symulacji Monte Carlo i kinematycznej teorii rozpraszania, pozwalający na obliczanie widm niezwierciadlanego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego w obszarze wysokich kątów. Przy jego pomocy badano wpływ różnych parametrów strukturalnych na widma dyfrakcyjne supersieci złoto/nikiel. Zastosowanie różnych podłoży pozwoliło na uzyskanie warstw: Au(111 )/Ni(111) oraz Au(001)/Ni(001). W wyniku przeprowadzonych badań stwierdziliśmy, że wspomniana różnica w mierzonych widmach spowodowana jest różnym stopniem utraty koherencji pomiędzy sąsiednimi warstwami w płaszczyźnie próbki. Ustalenie przyczyny tej różnicy pozwoliło w dalszych symulacjach na jakościowe odtworzenie widm eksperymentalnych wspomnianych wyżej układów.

Słowa kluczowe

EN

X-ray diffraction; coherence; difraction profiles

PL

promieniowanie rentgenowskie; układy wielowarstwowe; widma dyfrakcyjne; koherencja

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2000
• Tom: Vol. 41, nr 11
• Strony: 40--41
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Chocyk D.

autor

Gładyszewski G.

autor

Labat S.

autor

Gergaud P.

autor

Thomas O.

• Departament of Experimental Physics, Institute of Physics, Technical University of Lublin, Poland,