Operacje kontrolno-pomiarowe w SMT

• Autorzy: Kisiel R.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

operacje kontrolno-pomiarowe; test ICT; test X-ray; system AOI

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2000
• Tom: Vol. 41, nr 2
• Strony: 22--25
• Opis fizyczny: rys., tab.

Twórcy

autor

Kisiel R.

• Politechnika Warszawska, IMiO