Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
W artkule przedstawiono propozycję modelu wzrostu niezawodności modelu w procesie jego testowania. W celu uwzględnienia, bardzo często występującego w praktyce testowania oprogramowania, zjawiska wykrywania przez różne zestawy danych testowych tych samych błędów wprowadzono pojęcie tzw. macierzy charakterystycznej testowanego modułu. NA podstawie analizy zależności macierzy charakterystycznej i przyrostu wartości wskaźnika niezawodności modułu przedstawiono praktyczne oszacowania tego przyrostu dla wybranych postaci macierzy charakterystycznej testowanego modułu.
Słowa kluczowe
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
125--150
Opis fizyczny
Bibliogr. 21 poz., il.
Twórcy
autor
- Zakład Inżynierii Oprogramowania, Instytut Systemów Informatycznych, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa
Bibliografia
- [1] Boland P.J., Singh H.: A Birth-Process Approach to Moranda's Geometric Software-Reliability Model. IEEE Transactions on Reliability. Vol. 52, 2003.
- [2] Chin-Yu H., Lyu M.R., Sy-Yen K.: A Unified Scheme of Some Nonhomogenous Poisson Process Models for Software Reliability Estimation. IEEE Transactions on Software Engineering. Vol. 29, 2003.
- [3] Cohen D.M., Dalal S.R., Fredman M.L., Patton G.C.: The AETG System: An Approach to Testing Based on Combinatorial Design. IEEE Transactions on Software Engineering. Vol. 23, No. 7, 1997.
- [4] Goseva-Popstojanova K., Trivedi K.S.: Failure Correlation in Software Reliability Models. IEEE Transactions on Reliability. Vol. 49, 2000.
- [5] Jelinski Z., Moranda P.B.: Software Reliability Research. Statistical Computer Performance Evaluation. Academic Press, New York, 1972.
- [6] Kann S.H.: Metrics and Models in Software Quality Engineering. Addison Wesley, 2002.
- [7] Kit E.: Software Testing in Real Word. Improving the Process. ACM Press, 1995.
- [8] Lyu M.R.; Rangarajan S., van Moorsel A.P.A.: Optimal Allocation of Test Resources for Software Reliability Growth Modeling in Software Development. IEEE Transactions on Reliability. Vol. 51, 2002.
- [9] Malaiya Y.K., Li. M.N., Bieman J.M., Karcich R.: Software Reliability Growth With Test Coverage. IEEE Transactions on Reliability. Vol. 51, 2002.
- [10] Padberg F.: Maximum Likelihood Estimates for the Hypergeometric Software Reliability Model. International Journal of Reliability, Quality & Safety Engineering. Vol. 10, 2003.
- [11] Shooman M.L.: Probabilistic Models for Software Reliability Prediction. Statistical Computer Performance Evaluation. Academic Press, New York, 1972.
- [12] Thayer T.A., Lipov M., Nelson E.C.: Software Reliability. A Study of Large Project Reality. North-Holland Publishing Co., New York, 1978.
- [13] Tian J.: Better Reliability Assessment and Prediction through Data Clustering. IEEE Transactions on Software Engineering. Vol. 28, 2002.
- [14] Trachtenberg M.: A General Theory of Software-Reliability Modelling. IEEE Transactions on Reliability. Vol.39, No.1, 1990.
- [15] Vaurio J.K.: Common-Cause Failure Models, Data, Quantification. IEEE Transactions on Reliability. 9, Vol. 48, 1999.
- [16] Wooff D.A., Goldstein M., Coolen F.P.: Bayesian Graphical Models for Software Testing. IEEE Transactions on Software Engineering. Vol. 28, 2002.
- [17] Worwa K.: Estimation of the Program Testing Strategy. Part 1 - The Same Errors Can Not Be Encountered. Postępy Cybernetyki. Zeszyt 3-4, 1995.
- [18] Worwa K.: Estimation of the Program Testing Strategy. Part 2 - The Same Errors Can Be Encountered. Postępy Cybernetyki. Zeszyt 3-4, 1995.
- [19] Worwa K.: Ocena przewidywanego poziomu niezawodności programu. Postępy Cybernetyki. Zeszyt 1-2, 1993.
- [20] Yang M.C.K., Chao A.: Reliability-Estimation & Stopping-Rules for Software Testing Based on Repeated Appearances of Bugs. IEEE Transactions on Reliability. Vol. 44, No. 2, 1995.
- [21] Zhang X., Pham H.: Comparisons of Nonhomogeneous Poisson Process Software Reliability Models and its Applications. International Journal of Systems Science. Vol. 31, 2000.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA1-0005-0119