Zakłócenia w pomiarach ostrzowych struktur półprzewodnikowych

• Autorzy: Szewczyk A. , Spiralski L.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

sonda ostrzowa; pomiary; zakłócenia

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2003
• Tom: Vol. 23, nr 2
• Strony: 12--13
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz.

Twórcy

autor

Szewczyk A.

• Katedra Aparatury Pomiarowej Politechniki Gdańskiej

autor

Spiralski L.

• Katedra Aparatury Pomiarowej Politechniki Gdańskiej

Bibliografia

• 1. Cichosz J., Hasse L., Konczakowska A., Smulko J., Spiralski L., Szewczyk A.: Pomiary szumów małoczęstotliwościowych jako narzędzie diagnostyczne jakości obiektów. I Sympozjum Naukowe Aktualne Problemy w Metrologii APM'2000, Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej, nr 14, s. 21-35, Gdańsk 2000.
• 2. Szewczyk A.: Efekty fluktuacyjne w pomiarach ostrzowych płytek półprzewodnikowych. Referat na III Seminarium Miernictwo Sygnałów Przypadkowych NOISE 2000, Gdańsk-Wierzyca 28-30 czerwca 2000.
• 3. Hasse L., Spiralski L.: Szumy elementów i układów elektronicznych. WNT, Warszawa 1981.
• 4. Pałczyńska B., Turczyński J., Konczakowska A., Spiralski L.: Pomiar składowej losowej zakłóceń występujących w energetycznych liniach zasilania niskiego napięcia. Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki, z. 142, s. 109-126, Warszawa 2000.
• 5. Sposób pomiaru przebiegów niepożądanych w zakresie małych i wielkich częstotliwości w sieci zasilania niskiego napięcia, zwłaszcza w sieci okrętowej. Współtwórcy: Pałczyńska B., Turczyńki J., Konczakowska A., Spiralski L., zgłoszenie patentowe, 2000.
• 6. Hasse L., Karkowski Z., Spiralski L., Kołodziejski J., Konczakowska A.: Zakłócenia w aparaturze elektronicznej. Radioelektronik Sp.z o. o., Warszawa 1995.