Metody zwiększania czułości dwukanałowego systemu do pomiaru szumów

• Autorzy: Hasse L.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

pomiar szumów; czułość; pomiary bezpośrednie

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2003
• Tom: Vol. 23, nr 2
• Strony: 8--11
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz.

Twórcy

autor

Hasse L.

• Katedra Aparatury Pomiarowej Politechniki Gdańskiej

Bibliografia

• 1. Hasse L., Spiralski L.: Szumy elementów i układów elektronicznych. WNT, Warszawa 1981.
• 2. Hasse L.: Measurement of coherence Junction between noise currents of transistors. Proc. 12th IMEKO TC4 Intern. Symposium: Electrical Measurements and lnstrurnentation, Zagrzeb, s. 29-32.
• 3. Bruce S. P. O., Vandamme L. K. J., Rydberg A.: Measurement of low-frequency base and collector current noise and coherence in SiGe heterojunction bipolar transistors using transimpedance amplifiers. IEEE Trans. Electron Devices, nr 5, 1999, s. 993-1000.
• 4. Hasse L., Karkowski Z., Kołodziejski J., Konczakowska A., Spiralski L.: Zakłócenia w aparaturze elektronicznej. Radioelektronik Sp. z o.o., Warszawa 1995, s. 167-170.
• 5. Spiralski L., Hasse L., Konczakowska A., Sikula J.: Komputerowy system do pomiaru paranietrów szumowych elementów i układów elektronicznych. Mat. Krajowego Kongresu Metrologii, Gdańsk 15-18.09.1998, s. 420-429.
• 6. Macucci M., Pellegrini B.: Very sensitive measurement method of electron device current noise. IEEE Trans. Instrumentation and Measurements, nr 1, 1991, s. 7-12.