Ocena powiązań między poziomem szumów 1/f diod mocy a ich napięciem przebicia

• Autorzy: Konczakowska A.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

szumy; pomiary; diody

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 2003
• Tom: Vol. 23, nr 2
• Strony: 6--7
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz.

Twórcy

autor

Konczakowska A.

• Katedra Aparatury Pomiarowej Politechniki Gdańskiej

Bibliografia

• 1. Claeys C., Simoen E.: Noise as a diagnostic tool for semiconductor material and device characterization. J. Electrochem., vol. 145, no. 6, 2058-2067, 1998.
• 2. Dai Y.: A precision noise measurement and analysis method used to estimate reliability of semiconductor devices. Microelectron. Reliab., vol. 37, no. 6, 893-899, 1997.
• 3. Jevtic M. M.: Noise as a diagnostic and prediction tool in reliability physics. Microelectron. Reliab., vol. 35, no. 3. 455--477, 1995.
• 4. Jones B. K.: Electrical noise as a measure of quality and reliability in electron devices. Advances in Electronics and Electron Phyhics., vol. 87, 1994.
• 5. Jones B. K.: Electrical noise a a reliability indicator in electronic devices and component . IEE Proc.-Circuits Device Syst. , vol. 149, no. 1, 13-22, February 2002.
• 6. Konczakowska A.: Quality and 1/ f noise of electronic component. Qual. Reliab. Eng. Int. vol. 11, 165-169, 1995.
• 7. Konczakowska A., Cicho z J.: Szumy 1/f jako wskaźnik jakości diod mocy. Elektronizacja, nr 9, 3-6. 2001.
• 8. Konczakowska A.: Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f. Elektronizacja, nr 6, 18-20. 2002.
• 9. Vandamme L. K. J.: Noise as a diagnostic tool for quality and reliability of electron devices. IEEE Trans. On ED., vol. 41, no. 11. 1994.
• 10. Vandamme L. K., Trefan G.:1 / f noise in homogeneou and inhomogeneous media. IEEProc.-Circuit Devices Syst., vol. 149, no. 1, 3-12, February 2002.