Tytuł artykułu
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
The E-MRS European Conference on Photovoltaics ; ( 25.10-27.10.1999)
Języki publikacji
Abstrakty
A number of gettering treatments of Cz-Si wafers have been investigated. The characteristic parameters of the wafers have been measured. Among the procedures used, the gettering treatment, which included deposition of Ge film, followed by ion beam mixing and thermal annealing was preferred. This treatment allows to increase the diffusion length (Ld) of non-equilibrium carriers from 25-30 µm to 100-300 µm. The subsequent treatments did not lead to deterioration of Ld as it took place for the wafers without gettering treatments.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
410--413
Opis fizyczny
Bibliogr. 9 poz.
Twórcy
autor
autor
autor
autor
autor
autor
- Institute of Semiconductor Physics, National Academy of Sciences, 45 Prospect Nauki, 252028 Kiev, Ukraine, romb@isp.kiev.ua
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA1-0001-1027