Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
Symposium "Diagnostic and Yield : SOI-Materials, Devices and Characterization" (4 ; 22-24.04.1998 ; Warsaw, Poland)
Języki publikacji
Abstrakty
The special features in design and technology of a CMOS array on the basis of SOI structures as well as its main electrical characterization are considered. CMOS array have been fabricated by the method of scanning laser recrystallization of polysilicon layers. To use optimally the advantages of SOI structures and estimate experimantally thier abilities the array with a regular pattern has been chosen among the variety of IC.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
142--145
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz.
Twórcy
autor
autor
- Stata University "Lviv Polytechnica", Kotlarevsky Str. 1, Lviv 290013, Ukraine
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA1-0001-0453