Niezawodność układów scalonych. Montaż i hermetyzacja

• Autorzy: Jakubowska K. , Łuczyński J.

Warianty tytułu

EN

Reliability of integrated circuits. Assembly and encapsulation

• Języki publikacji: PL
• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
• Rocznik: 1998
• Tom: nr 3
• Strony: 12--15
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz.

Twórcy

autor

Jakubowska K.

autor

Łuczyński J.

• Instytut Technologii Elektronowej