Niskokoherentny, interferometryczny system do badania właściwości materiałów ceramicznych

• Autorzy: Jędrzejewska-Szczerska M. , Strąkowski M. , Hypszer R. , Kosmowski B.B.

Warianty tytułu

EN

The low-coherence, interferometric system for ceramic materials diagnosis

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono światłowodowy system dwuwymiarowej wizualizacji niejednorodnych struktur warstw ceramicznych. Omówiono projekt i fizyczną realizację układu wykorzystującego optyczną, niskokoherentną reflektometrię optyczną, która umożliwia nieinwazyjne i bezkontaktowe obrazowanie wewnętrznych struktur różnych materiałów silnie rozpraszających promieniowanie. Przedstawiono przykładowe wyniki pomiarów wewnętrznych warstw ceramiki LSFO. Dodatkowo przeanalizowano możliwości poprawy rozdzielczości pomiaru systemu OCT przez zastosowanie syntezowanych źródeł promieniowania.

EN

In this paper we present a fiber based Optical Coherence Tomography system for two-dimensional visualization of LSFO ceramic subsurface inhomogeneities. The OCT system is capable for non­destructive and non-contact investigation of highly scattering materials like ceramics. The experimental results of investigation of LSFO ceramic structures has been presented. The usefulness of synthesized light source for improving the measurement resolution has been described.

Słowa kluczowe

PL

niskokoherentna tomografia optyczna; OCT; niskokoherentna reflektometria optyczna; OLCR; badania materiałowe; ceramika

EN

optical low-coherence tomography; OCT; optical low-coherence reflectometry; OLCR; technical materials investigation; ceramics

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2007
• Tom: Vol. 48, nr 3
• Strony: 39--41
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., il., wykr.

Twórcy

autor

Jędrzejewska-Szczerska M.

autor

Strąkowski M.

autor

Hypszer R.

autor

Kosmowski B.B.

• Politechnika Gdańska, Katedra Optoelektroniki

Bibliografia

• [1] Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Hypszer R., Kosmowski B.: Zastosowania optycznej tomografii niskokoherentnej do 2-wymiarowgo obrazowania cienkich warstw polimerów. Elektronika, nr 5, 2006, ss. 67-68.
• [2] Łoziński A., Rydzewska S., Wierzba P., Lappavuori S.: Self-Supporting LSFO Films For Bolometers Made With LTCC Technology. EUROSENSORS 2005 (materiały konferencyjne).
• [3] Łoziński A.: Thin pyroelectric plzt film obtained with sol-gel technology. COE 2002, VII Konferencja Naukowa "Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne", Rzeszów 5-8 czerwca 2002, ss. 179-184.
• [4] Jędrzejewska-Szczerska M., Hypszer R., Kosmowski B. B.: Wpływ doboru parametrów źródła na rozdzielczość pomiarów w interferometrii niskokoherentnej. COE 2004, VIII Konferencja Naukowa "Czujniki Elektroniczne i Optoelektroniczne", Wrocław 27-30 czerwca 2004, ss. 506-509.
• [5] Wang D. N., Shu C.: Discrete fringe pattern to reduce the resolution limit for white light interferomtry. OPTICS COMMUNICATIONS 162, 1999, pp. 187-190.
• [6] Sato M. i in.: Fundamental characteristics of the synthesized light source for optcal coherence tomography. APPLIED OPTICS, vol. 44, no 13, 1 May 2005, pp. 2471-2481.
• [7] Zhang Y., Sato M.: Resolution improvement in OCT by optimal synthesis of light emitting diodes. OPTICS LETTERS, vol. 26, no 4, 2001, pp. 205-207.