Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Influence of loop delays on overall accuracy of integrating analog-to-digital converters
Języki publikacji
Abstrakty
W integracyjnych przetwornikach A/C wynik pomiaru określony jest zwykle przez relacje pomiędzy pewnymi parametrami czasowymi. Opóźnienia wprowadzane przez elementy składowe przetwornika wywołują odchyłki w czasach, co prowadzi do powstawania dodatkowych błędów, nie tylko zera bądź wzmocnienia, ale także liniowości. W przetwornikach precyzyjnych błędy dynamiczne mogą wręcz decydować o ogólnej dokładności.
In Dual-Slope and others similar integrating analog-to-digital converters, conversion result depends on time-related output signal. All delays introduced of mainly analog components lead to additional errors, not only zero-offset, but also nonlinearity error. The paper presents discussion showing that such delays in some cases determines overall accuracy of the converter.
Wydawca
Rocznik
Tom
Strony
36--38
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., wykr.
Twórcy
autor
- Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki
Bibliografia
- [1] Nowiński M.: Integracyjne przetworniki analogowo-cyfrowe - struktury i właściwości. Elektronizacja nr 7-8/1998.
- [2] Nowiński M.: Integracyjne przetworniki analogowo-cyfrowe w cyfrowych systemach pomiarowych. Podstawowe Problemy Metrologii, Gliwice-Ustroń-Katowice, 1998.
- [3] Nowiński M.: New Architectures of Integrating Analog-to-Digital Converters. Programmable Devices and Systems, Ostrava 1996.
- [4] Nowiński M.: A New Concept of an Integrating Analog-to-Digital Converter. KKTOiUE, Krynica 1996.
- [5] A 20-Bit (1 ppm) Linear Slope Integrating A/D Converter, National Semiconductor Corp., Application Note AN-260.
- [6] Nowiński M.: Przetworniki sigma-delta - uwagi malkontenta. Elektronika, nr 4/2005, ss. 43-47.
- [7] Szcześniak W., Pawłowski P.: Proper Choise of Loop Delay of Sigma-Delta Modulators, XIX Krajowa Konferencja Teorii Obwodów i Układów Elektronicznych, Kraków-Krynica 1996
- [8] Williams J.: Composite Amplifiers. Linear Technology Application Note 21, 1986.
- [9] Nowiński M.: Badania porównawcze własności metrologicznych wybranych integracyjnych przetworników a/c. Podstawowe Problemy Metrologii, Gliwice-Ustroń-Katowice 2001.
- [10] Nowiński M.: Nowe integracyjne przetworniki A/C - implementacja praktyczna i badania porównawcze. Krajowy Kongres Metrologii KKM 2001, Warszawa 2001.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA0-0019-0045