Szumy 1/f i rozdzielczość czujników temperatury typu Rox

• Autorzy: Ptak P.

Warianty tytułu

EN

1/f noise and resolution of Rox-type temperature sensors

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zmierzono intensywność szumu 1/f rezystancyjnego czujnika temperatury RX-202A firmy LakeShore oraz kilku rezystorów grubowarstwowych typu RuO2 + szkło o różnej zawartości objętościowej składnika przewodzącego. Intensywność szumu czujnika i rezystorów znacząco wzrastała wraz ze zmniejszaniem temperatury poniżej kilku stopni Kelvina. Wzrost szumu 1/f prowadzi do ograniczenia rozdzielczości pomiaru temperatury. Dla najniższych temperatur rzędu 50 mK jest ona ograniczona do czterech cyfr.

EN

1/f noise intensity was measured for LakeShore RX-202A resistance temperature sensor and for some RuO2 + glass thick film resistors with various volume fractions of conductive component. The noise intensity both of the sensor and of the resistors increased considerably when the temperature was lowered below a few Kelvin. The rise of 1/f noise leads to the limitation of the temperature measurement resolution. For the lowest temperatures of ~ 50 mK it is limited to 4 digits.

Słowa kluczowe

PL

czujniki temperatury; rezystory grubowarstwowe; szumy niskoczęstotliwościowe; rozdzielczość termometrów

EN

thermometer resolution; temperature sensor; thick film resistor; low-frequency noise

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 11
• Strony: 68--70
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., wykr.

Twórcy

autor

Ptak P.

• Politechnika Rzeszowska, Katedra Podstaw Elektroniki

Bibliografia

• [1] Kolek A. et. al.: Low temperature non-linear 1/f noise in RuO2 based thick film resistors, Materiały 25. Konferencji Int. Spring Seminar on Electronics Technology, ISSE'25, Praga, Czechy, 2002, p. 147.
• [2] Ptak P. et.al.: 1/f noise versus magnetic field in RuO2 based thick film resistors. Materiały 26. Konferencji Int. Spring Seminar on Electronics Technology, ISSE'26, Stara Leśna, Słowacja, 2003, p. 196.
• [3] Ptak P. et. al.: Noise resolution of RuO2 based resistance thermometers. Review of Scientific Instruments, t. 76, 2005, p. 014901.
• [4] Ptak P. et. al.: Wpływ szumów niskoczęstotliwościowych na rozdzielczość termometrów opartych na RuO2. Materiały IV Konferencji KKE'04, Darłówko 2005, p. 337.
• [5] http://www.lakeshore.com/temp/sen/rrtd.html
• [6] Affronte M. et. al.: Magnetoresistance of RuO2 -based thick film resistors. Journal of Low Temperature Physics, t. 112, 1998, p. 355.
• [7] Prudenziati M.: Electrical transport in thick film (cermet) resistors; Electrocomponent Science Technology, t. 10, 1983, p. 285.
• [8] Scofield J. H.: Ac method for measuring low-frequency resistance fluctuation spectra; Review of Scientific Instruments, t. 58, 1987, p. 985.
• [9] Holmes D. S., Courts S. S.: Resolution and accuracy of cryogenic temperature measurements, Temperature: Its Measurement and Control in Science and Industry, t. 6, 1992, p. 1225.
• [10] Kolek A. et. al.: Low frequency noise resolution of Ru-based low-temperature thick film sensors. Materiały 18. Konferencji Int. AIP Conf. on Noise and Fluctuations, ICNF 2005, Salamanca, Spain, t. 780, 2005, p. 163.