Metody spektrometrii mas w zastosowaniu do badania materiałów

• Autorzy: Konarski P. , Ćwil M. , Kaczorek K. , Marks J.

Warianty tytułu

EN

Mass spectrometry methods for solid samples

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Omówiono trzy metody spektrometrii mas: ze źródłem iskrowym (SSMS), jonów wtórnych (SIMS) oraz wyładowania jarzeniowego (GDMS). Porównano rodzaje zastosowanych źródeł jonowych oraz parametry trzech analizatorów znajdujących się w wyposażeniu Przemysłowego Instytutu Elektroniki (SAJW-05, JEOL JMS-01BM2 oraz model doświadczalny GDMS). Zaprezentowano przykłady zastosowań tych metod do badań różnorodnych materiałów, takich jak półprzewodnikowe układy warstwowe InAIGaAs/GaAs, drobiny pyłów atmosferycznych zanieczyszczających środowisko miejskie, stal nierdzewna. Przedstawiono zalety oraz wady poszczególnych metod.

EN

Three methods of mass spectrometry - spark source (SSMS), secondary ion (SIMS) and glow discharge (GDMS) are compared. Types of ion sources are discussed as well as parameters of three analyzers being in use in Industrial Institute of Electronics (SAJW-05 SIMS, JEOL JMS-01BM2 SSMS and laboratory version of GDMS). Examples of analyses show SIMS mass spectrum and depth profile analysis of MOVPE grown multilayer structure, SSMS results of urban aerosol composition and GDMS results of stainless steel. Advantages and drawbacks of each method are described.

Słowa kluczowe

PL

spektrometria mas; źródło iskrowe; jony wtórne; wyładowanie jarzeniowe; SSMS; SIMS; GDMS

EN

mass spectrometry; spark source; secondary ions; glow discharge; SSMS; SIMS; GDMS

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 7
• Strony: 51--53
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Konarski P.

autor

Ćwil M.

autor

Kaczorek K.

autor

Marks J.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa

Bibliografia

• [1] Adams R., Gijbels R., van Grieken R.: Inorganic Mass Spectrometry. John Wiley & Sons, New York, 1988.
• [2] Wilson R. G., Stevie F. A., Magee Ch. W.: Secondary Ion Mass Spektrometry. John Wiley & Sons, New York 1989.
• [3] Harrison W. W.: J. Anal. Spektrom .3; 867-872 (1988).
• [4] Adams R., Vertes A.: Fresenius J. Anal. Chem. (1990) 337: 638-647.
• [5] Konarski P., Ćwil M., Zaremba M., Radziewicz D., Ściana B., Kozłowski J.: Rev. Adv. Mat. Sci. 8; 16-21 (2004).
• [6] Konarski P., Hałuszka J., Ćwil M., Iwanejko I., Kaczorek K., Gaweł J., Pisiewicz K., Lesiak-Bednarek A., Strugała-Stawik H.: Vacuum 78; 297-301 (2005).
• [7] van Straaten M., Vertes A., Gijbels R.: Anal. Chemistry, 62, 1825-1827 (1990).
• [8] Konarski P., Mierzejewska A.: Appl. Surf. Sci. 203-204; 354-358 (2003).