Zastosowanie optycznej tomografii niskokoherentnej do 2-wymiarowego obrazowania cienkich warstw polimerów

• Autorzy: Strąkowski M. , Jędrzejewska-Szczerska M. , Maciejewski M. , Hypszer R. , Pluciński J. , Kosmowski B.

Warianty tytułu

EN

An optical low-coherence system for 2-dimensional visualization of thin polymer layers

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono zasadę działania i podstawowe właściwości systemu OCT (Optical Coherence Tomography). Na przykładzie folii polietylenowej przedyskutowano możliwości wykorzystania systemu do badanie wewnętrznej struktury warstwowej obiektów niebiologicznych. Omówiono wyniki przeprowadzonych badań nad warstwowymi materiałami przeźroczystymi.

EN

An Optical Low-Coherence Tomography (OCT) is a novel optical measurement technique, which enables non-destructive and non-contact investigation of multilayer structures. In this paper the authors present a laboratory OCT system for surface and subsurface investigation of scattering technical objects such as polymer layers. Preliminary test results on subsurface technical objects investigation using OCT system have been presented and discussed.

Słowa kluczowe

PL

optyczna tomografia niskokoherentna; OCT; struktury warstwowe; interferencja światła białego

EN

optical low-coherence tomography; OCT; multilayer structure; white light interferometry

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 5
• Strony: 67--68
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., il.

Twórcy

autor

Strąkowski M.

autor

Jędrzejewska-Szczerska M.

autor

Maciejewski M.

autor

Hypszer R.

autor

Pluciński J.

autor

Kosmowski B.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki

Bibliografia

• [1] Stifter D., et al.: Polarization-sensitive OCT for material characterization and strain-field mapping, Appl. Phys. A. 76, 2003, 947-951.
• [2] Dunkers J. P., et al.: The application of optical coherence tomography to problems in polymer matrix composites, Optics and Lasers in Engineering, t. 35, 2001, 135-147.
• [3] Levitz D., et al.: Determination of optical scattering properties of highly-scattering media in optical coherence tomography images, Optics Express, vol. 12, no. 2, 2004, 249-259.
• [4] Duncan M. D., Bashkansky M.: Subsurface defect detection in materials using optical coherence tomography, Optics Express, vol. 2, no. 13, 1998, 540-545.
• [5] Fercher A. F., et al.: Optical Coherence Tomography principles and applications, Rep. Prog. Phys., vol. 66, 2003, 239-303.
• [6] Jędrzejewska-Szczerska M., Hypszer R., Kosmowski B. B.: Wpływ doboru parametrów źródła na rozdzielczość pomiaru w interferometrii niskokoherentnej. VII Konferencja COE, 2004, 506-509.
• [7] Strąkowski M., et al.: Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne. Materiały IV Konferencji PPM05, 2005, 225-232.