Mechanika kwantowa i metrologia

• Autorzy: Nawrocki W.

Warianty tytułu

EN

Quantum mechanics and metrology

• Konferencja: Metrologia Kwantowa ; 09-10.05.2006 ; Poznań, Polska
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Związek między mechaniką kwantową a metrologią stworzył nowy dział metrologii - metrologię kwantową. Obejmuje ona zarówno zagadnienia teoretyczne, jak i niepewność pomiaru według zasady Heisenberga oraz urządzenia techniczne: kwantowe wzorce i przyrządy pomiarowe o największej czułości. W artykule opisano stosowane wzorce kwantowe - napięcia, oporu elektrycznego oraz zegar atomowy.

EN

The relationship between the quantum mechanics and the metrology created the new division of the metrology - the quantum metrology. The quantum metrology embraces such theoretical problems, as the uncertainty of the measurement according to the Heisenbergs Uncertainty Principle, and technical devices: quantum standards and measuring instruments about the extreme sensitivity. In the article one described quantum standards: the standard of voltage, the standard of the electrical resistance and the atomic clock.

Słowa kluczowe

PL

mechanika kwantowa; wzorce kwantowe; rozdzielczość pomiaru

EN

quantum mechanics; quantum standard; resolution of a measurement

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 5
• Strony: 9--12
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz.

Twórcy

autor

Nawrocki W.

• Politechnika Poznańska, Instytut Elektroniki i Telekomunikacji

Bibliografia

• [1] Piotrowski J., Kostyrko K.: Wzorcowanie aparatury pomiarowej. Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2000.
• [2] Friedman J. R., Patel V., Chen W., Tolpygo S. K., Lukens J. E: Quantum superposition of distinct macroscopic states. Nature, vol. 406 (2000), 43-45.
• [3] Einstein A.: Uber einen die Erzuegung und Verwandlung des Lichtes betreffenden heuristischen Gesichtspunkt. Annalen der Physik, Band 17 (1905), 132-148.
• [4] Kose V., Melchert F.: Quantenmaße in der elektrischen Meßtechnik. Weinheim, VCH Verlag 1991.
• [5] Ketchen M. B.: Design and fabrication considerations for extending integrated dc-SQUIDs to the deep sub-micron regime. W "Superconducting devices and their applications", red. H. Koch i H. Lubbig, Springer, Berlin 1992, 256-264.
• [6] Josephson B. D.: Possible new effects in superconducting tunneling. Physics Letters, vol. 1 (1962), 251-263.
• [7] Sochocka D., Nawrocki W.: Kwantowy wzorzec jednostki miary napięcia elektrycznego w Głównym Urzędzie Miar. Elektronika, 2001, vol. 42, nr 11, 15-18.
• [8] von Klitzing K., Dorda G., Pepper M.: New method for high-accuracy determination of fine-structure contact based on quantized Hall resistance. Physical Rev. Lett., 1980, vol. 45, 494-497.
• [9] Delahaye F., Witt T. J., Jeckelman N., Jeanneret B.: Comparison of quantum Hall effect resistance standards of the OFMET and BIPM. Metrologia, 1996, vol. 32, 385-388.
• [10] Czubla A., Gadomski P., Konopka J.: Realizacja jednostek miary czasu i częstotliwości na stanowisku państwowego wzorca. Materiały Konferencji "Podstawowe Problemy Metrologii", Ustroń 2005, 417-424.