Wybrane problemy pomiaru widma częstotliwości

• Autorzy: Ruszel P.

Warianty tytułu

EN

Selected problems of mesured frequency spectra

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W urządzeniach technicznych wykorzystujących energię elektryczną istotnym źródłem zaburzeń elektromagnetycznych są szybkie zmiany wartości napięcia lub prądu. Jeżeli oryginał sygnału w dziedzinie czasu wykazuje cechy skoku jednostkowego, to jego obrazem jest widmo, którego obwiednia zanika z szybkością -20 dB/dek. W publikacji przedstawiono wyniki analizy i pomiarowej weryfikacji wybranych zagadnień związanych ze zjawiskiem generacji przewodzonych szerokopasmowych zaburzeń elektromagnetycznych powstających w wyniku przełączenia klucza elektrycznego.

EN

In technical devices which make use of electric power rapid changes of voltage degree or current are the key source of electromagnetic interference. If the original of the signal in time range reveals traits of the single jump then its image is the spectrum whose envelope fades away at the speed of -20 dB/dek. In the papier results of analysis, computer simulation and experimental verification of spectra of broad-band conducted electromagnetic interferences generated by electric switches, are presented.

Słowa kluczowe

PL

kompatybilność elektromagnetyczna; widmo częstotliwości

EN

electromagnetic compatibility; frequency spectrum

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 3
• Strony: 40--43
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., wykr.

Twórcy

autor

Ruszel P.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Bibliografia

• [1] Przepisy normalizacyjne.: EN 50081-1, EN 50081-2, EN 55022, EN 55011, EN 55013, EN 55014, EN 60555-2, EN 60555-3, EN 55015, EN 55015-1.
• [2] Hołownia J.: A stale space analysis examples of transient noise generation in electrical circuits. IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility, vol. EMC-18, no 3, August 1976.
• [3] Rodewald A., Kunkel H., Lutz M.: Interference generated by switching operation and its simulation. EMC Symposium, Tokyo 1984.
• [4] Ott H. W.: Noise reduction techniques in electronic systems. John Viley & Sons, wyd. 2, New York 1988.
• [5] Dane katalogowe wyrobów CP Clare Corporation.
• [6] Leferink F. B. J.: Inductance calculation, method and equstions. IEEE 995, International Symposium on Electromagnetic Compatibility, August 14-18, Atlanta 1995.
• [7] Kovács F.: Hochfrequenzanwendungen von Halbleiter Bauelementen. Ein Lehr und Arbeitsbuch für den Hf - Ingenieur in Forschung, Entwiclung und Praxis. Franziz - Verlag Munchen 1978.
• [8] Golde W.: Wzmacniacze tranzystorowe: małej częstotliwości, prądu stałego, szerokopasmowe. WNT, Warszawa 1967.
• [9] Świt A.: Przyrządy półprzewodnikowe. WNT, Warszawa 1968.
• [10] Ebers J. Z., Moll J. L: Large-signal Behaviour of Junction Transistors. Proc. IRE 42, 1954.