Pomiar i modelowanie właściwości źródeł szerokopasmowych zakłóceń elektromagnetycznych

• Autorzy: Ruszel P.

Warianty tytułu

EN

Measurement and modelling of broad-band electromagnetic interference sources properties

• Konferencja: Miernictwo Sygnałów Przypadkowych - NOISE 2005 (4 ; 23-24.05.2005 ; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W urządzeniach technicznych wykorzystujących energię elektryczną istotnym źródłem zaburzeń elektromagnetycznych są szybkie zmiany napięcia lub prądu. Sygnały takie powstają w wyniku procesów przełączania tak zwanych kluczy elektrycznych. Podstawowym elementem procesu rozpoznania właściwości źródeł zaburzeń, pozwalającym na empiryczną weryfikację rozważań teoretycznych jest pomiar. Jednak pomiar widma sygnału wywołanego przełączeniem klucza elektrycznego wymaga uwzględnienia szeregu uwarunkowań. Do najistotniejszych można zaliczyć: zadanie „wydzielenia" widma wynikającego z sygnału załączenia lub wyłączenia klucza, uwzględnienia wpływu impedancji, pomiędzy którymi zlokalizowany jest klucz oraz zagadnienia związane z budową modeli źródeł zakłóceń.

EN

In technical devices which make use of electric power rapid changes of voltage degree or current are the key source of electromagnetic interference. These signals are created as a result of operational processes of so called "electric switches". The basic element of the sources' properties recognition process, which allows empirical verification of the theoretical assumptions, is measurement. However, measuring the signal's spectrum which is caused by the "electric switch" operation requires taking into account a number of aspects and conditions. The most significant ones are: the spectrum "exuding" which is a result of signal turning the switch off or on, impact of impedance between which the tested switch is located and some problems of modelling of broad-band electromagnetic interference sources.

Słowa kluczowe

PL

kompatybilność elektromagnetyczna; widmo częstotliwościowe; modelowanie; pomiar

EN

electromagnetic compatibility; frequency spectrum; modelling; measurement

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 2
• Strony: 18--23
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., wykr.

Twórcy

autor

Ruszel P.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Bibliografia

• [1] Hołownia J.: A State Space Analysis Exampler of Transient Noise Generation in Electrical Circuits. JEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility, vol. EMC-18, nr 3, August 1976.
• [2] Ruszel P.: Półprzewodnikowe przyrządy przełączające źródłem szerokopasmowych zakłóceń elektromagnetycznych. PAK, 2/1997, s. 33-35.
• [3] Ruszel P.: Zagadnienia normalizacyjne z zakresu kompatybilności elektromagnetycznej - barierą czy czynnikiem postępu dla krajowych producentów. PAK, 8/1998, s. 306-310.
• [4] Müller K. O., Stecher M., Wolf J.: ESHS and ESVS new EMI test receivers for 9 kHz - 1000 MHz. News from Rohde & Schwarz, Measuring EMI end wonted signals - special edition, 1995, s. 8-12.
• [5] Ruszel P.: Sposób i układ do pomiaru widma częstotliwości. Patent PL 170392, opis patentowy s. 1-4
• [6] Ruszel P.: Głowica do pomiaru widma częstotliwości. Patent PL 170412, opis patentowy s. 1-4.
• [7] Ruszel P.: Analiza impedancji obwodu zasilania płytki drukowanej. Elektronika, 4/2005, s. 13-18.
• [8] Ruszel P.: Zagadnienia z zakresu pomiaru właściwości źródeł szerokopasmowych zaburzeń elektromagnetycznych. Referat wygłoszony na III sesji plenarnej, Noise 2005, Gdańsk 23-24 maja 2005.
• [9] Ruszel P.: Aspekty metrologiczne w pomiarach widma sygnałów generowanych w wyniku przełączenia klucza elektrycznego. Raport PRE nr 2/2005, Zakład Wydziałowy Inżynierii Biomedycznej i Pomiarowej Wydziału PPT Politechniki Wrocławskiej.
• [10] Praca zbiorowa pod redakcją Szymczak M.: Słownik języka polskiego. PWN, Warszawa 1979, t. 2, s. 199.
• [11] Ruszel P.: Klucz elektryczny jako podstawowe źródło zakłóceń w urządzeniach i systemach pomiarowych. Identyfikacja i modelowanie elementarnych źródeł zakłóceń występujących w urządzeniach elektrycznych i elektronicznych. Instytut Metrologii Elektrycznej Politechniki Wrocławskiej. Raport z serii SPR nr 289/94, czerwiec 1994, s. 1-77.