Badanie stacjonarności przebiegów szumowych w transoptorach CNY 17

• Autorzy: Stawarz B.

Warianty tytułu

EN

Evaluation of stationarity of low frequency noise of optocouplers type CNY 17

• Konferencja: Miernictwo Sygnałów Przypadkowych - NOISE 2005 (4 ; 23-24.05.2005 ; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono wyniki badań stacjonarności przebiegów szumów własnych diod transoptorów i transoptorów. Ocena stacjonarności szumów własnych z zakresu małych częstotliwości badanych przyrządów dotyczyła stacjonarności parametrów statystycznych szumów własnych: wartości średniej, wariancji, skośności i kurtozy. Stwierdzono, że parametry statystyczne spełniają test stacjonarności, zarówno dla diod transoptorów, jaki i dla transoptorów, które nie generują szumów wybuchowych.

EN

The results of a stationarity evaluation of an inherent low frequency noise of optocouplers and diodes of optocouplers were presented. The test for stationarity was applied for statistical parameters of inherent noise: mean value, variance, skewness, kurtosis. It was found that all statistical parameters of measured noise fulfilled the test for stationarity, specially for diodes of optocouplers and optocouplers which do not generate burst noise.

Słowa kluczowe

PL

szumy 1/f; szumy wybuchowe; stacjonamość; transoptory

EN

1/f noise; burst noise; stationarity; optocouplers

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 2
• Strony: 15--17
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., wykr.

Twórcy

autor

Stawarz B.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki

Bibliografia

• [1] Konczakowska A., Cichosz J., Stawarz B.: Statisical properties of low frequency noise of optoelectronic coupled devices. Proc. of the Second SPIE Inter. Symposium on "Fluctuations and noise", 26-28 May, 2004, Maspalmas, Hiszpania, vol. 5472, pp. 375-384.
• [2] Bendat J. S., Piersol A. G.: Random Data, J. Wiley & Sons 2000.
• [3] Gajda J.: Statystyczna analiza danych pomiarowych. Skrypt Akademii Górniczo-Hutniczej, Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki, Kraków 2002.
• [4] Hasse L., Spiralski L.: Szumy elementów i układów elektronicznych.WNT, Warszawa 1981.
• [5] Jevtić M. M.: Low frequency noise as a tool to study optocouplers with phototransistors. Microelectronic Reliability, vol. 44, 2004, pp. 1123-1129.