Influence of the clock signal phase fluctuation on the precision of time-interval measurement

• Autorzy: Zieliński M. , Kowalski M. , Grzelak S. , Chaberski D. , Frankowski R.

Warianty tytułu

PL

Wpływ fluktuacji fazowych sygnału zegara na dokładność pomiaru odcinka czasu

• Konferencja: Miernictwo Sygnałów Przypadkowych - NOISE 2005 (4 ; 23-24.05.2005 ; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Random clock signal phase fluctuations and their influence on the precision of time-interval measurement are described in this paper. The construction of time-interval measurement system [TIMS] and its application for oscillator phase fluctuations measurement are discussed. The new metrological parameters useful for estimations of the precision of TIMS as function of the measuring range are proposed.

PL

W artykule opisano w jaki sposób przypadkowe fluktuacje sygnału zegarowego wpływają na dokładność pomiaru odcinka czasowego. Przedstawiono budowę systemu pomiaru odcinka czasowego oraz pokazano sposób jego wykorzystania do oceny fluktuacji fazowych generatora zegarowego. Zaproponowano nowe parametry dla określenia stopnia oddziaływania fluktuacji fazowych na system pomiaru odcinka czasowego i ich wpływ na dokładność pomiaru w zależności od wielkości zakresu pomiarowego.

Słowa kluczowe

EN

time-interval measurement; phase fluctuations

PL

pomiar odcinka czasowego; fluktuacje fazowe

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 47, nr 1
• Strony: 50--52
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., wykr.

Twórcy

autor

Zieliński M.

autor

Kowalski M.

autor

Grzelak S.

autor

Chaberski D.

autor

Frankowski R.

• Uniwersytet Mikołaja Kopernika, Instytut Fizyki, Toruń

Bibliografia

• [1] Zieliński M., Karasek K. and Dygdała R. S.: Fast, real-time multichannel scaler, construction and applications. Rev. Sci. Instr., 1996, 67, pp. 3325-3331.
• [2] Zieliński M., Dygdala R. S. and Plociennik P.: High-resolution Digital Counting Systems for Applications in atomic Physics, 5-th International Symposium on Measurement, Technology and Intelligent Instruments. Giza, Cairo, Egypt, 2001, pp. 359-364.
• [3] Frankowski R., Grzelak S., Kowalski M., Chaberski D. and Zieliński M.: Time interval measurements, using tapped delay lines implemented in a programmable logical structures. 12-th IMEKO TC4 International Symposium Zagreb, Croatia, Proceedings, part 2, 2002, pp. 333-336.
• [4] Poore R.: Phase Noise and Jitter, Agilent EEsof EDA, 17 May 2001.
• [5] Zieliński M., Chaberski D., Kowalski M., Frankowski R., Grzelak S.: High-resolution time-interval measuring system implemented in single FPGA device. Measurement 35, 2004, pp. 311-317.
• [6] Zieliński M., Dygdała R. S., Karasek K., Zawadzka A.: Real-time multichannel sealer mesurement of oscillator instabilities. Rev. Sci. Inst., vol. 71, no 6, June 2000, pp. 2577-2581.