Analiza fraktalna powierzchni stali poddanej rozpylaniu jonowemu

• Autorzy: Kowalski Z. W. , Martan J.

Warianty tytułu

EN

Fractal analysis of ion sputtered steel surface

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Analiza fraktalna zjawisk zachodzących podczas bombardowania jonowego ciała stałego zajmuje wśród publikacji poświęconych fraktalom niewiele miejsca. Prace prowadzone w tym zakresie są nieliczne, szczególnie dotyczące analizy fraktalnej struktury geometrycznej powierzchni (SGP) materiałów poddanych bombardowaniu jonami o względnie małej energii (rozpylanie jonowe). Opracowanie koncentruje się na mikrochropowatości powierzchni stali poddanej rozpylaniu jonami argonu o energii 800 eV.

EN

Publications on fractal analysis of phenomena occurring during ion bombardment of solid are only a small part of scientific papers relating to fractals. Only a few of papers deal with that problem, especially the problem of geometrical structure of materials bombarded with the use of relatively low energy ions (ion sputtering). This article is concentrated on steel surface microroughness induced by 800 eV argon ion sputtering and this is an attempt to fill existing gap.

Słowa kluczowe

PL

analiza fraktalna; rozpylanie jonowe; chropowatość powierzchni; stal

EN

fractal analysis; ion sputtering; surface roughness; steel

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2005
• Tom: Vol. 46, nr 6
• Strony: 28--30
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., il.

Twórcy

autor

Kowalski Z. W.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

autor

Martan J.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Informatyki i Zarządzania

Bibliografia

• 1. Nowicki B.: Struktura geometryczna. Chropowatość i falistość powierzchni, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 1991.
• 2. Davies S., Hall P.: Fractal analysis of surface roughness by using spatial data, J. R. Statist. Soc. B 61, 1999, 3-37.
• 3. Thomas T. R., Rosén B.-G., Amini N.: Fractal characterization of the anisotropy of rough surfaces, Wear 232, 1999, 41-50.
• 4. Abrams C. F., Graves D. B.: Energetic ion bombardment of SiO2 surfaces: Molecular dynamics simulations, J. Vac. Sci. Technol. A 16, 5, 1998, 3006-3019.
• 5. Kowalski Z. W.: Morfologia powierzchni rozpylanej jonami - implikacje technologiczne i biomedyczne, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 2001.
• 6. Martan J., Kowalski Z. W.: Analiza fraktalna w technice jonowej, Elektronika (XLII), 7, 2001, 16-17.
• 7. Przybylski G., Martan J., Kowalski Z. W.: Analiza fraktalna powierzchni rozpylanej jonami. Materiały VII Konferencji Naukowej „Technologia Elektronowa” ELTE 2000, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000 r., Tom 2, Wyd. ITM PWr., Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 903-907.
• 8. Wilk J., Przybylski G., Kowalski Z. W.: Modyfikacja chropowatości powierzchni stali nierdzewnej wiązkami jonowymi. Elektronika (XLII), 7, 2001, 36-37.
• 9. Przybylski G., Martan J., Kowalski Z. W.: Fractal analysis of ion-sputtered stainless steel surface. Vacuum 70, 2003, 255-261.
• 10. Bałamucki J., Czarnecki P., Wilk J., Kowalski Z. W.: Badania profilometryczne mikrochropowatości powierzchni tytanu rozpylanej jonami jako wstępny etap jej analizy fraktalnej. IX Ogólnopolskie Seminarium „Techniki jonowe”, Szklarska Poręba, 16-18 marca 2005 (przeznaczone do druku w czasopiśmie „Elektronika”).
• 11. Marendziak A., Gotszalk T., Rangelow I., Wilk J., Kowalski Z. W.: Przygotowanie mikroskopu sił atomowych do pomiarów nanochropowatości i analizy fraktalnej powierzchni rozpylanej jonami. IX Ogólnopolskie Seminarium „Techniki jonowe”, Szklarska Poręba, 16-18 marca 2005 (przeznaczone do druku w czasopiśmie „Elektronika”).