Nowoczesne techniki analityczne wykorzystujące plazmę indukcyjnie sprzężoną jako źródło wzbudzenia i jonizacji

• Autorzy: Skrzydlewska E. , Balcerzak M. , Pasławski P.

Warianty tytułu

EN

Inductively coupled plasma as a source of excitation and ionization for modern analytical techniques

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

EN

Plasma spectrometric techniques: inductively coupled plasma-atomic emission spectrometry (ICP-AES) and inductively coupled plasma-mass spectrometry (ICP-MS) are rapidly becoming the most important analytical tools for the determination of trace amounts of elements. High speed, excellent detection limits, wide dynamic range and possibility of accurate multi-element analysis make the techniques particularly suited to the determination of ppb and sub-ppb levels of the analytes in complex matrices. Mass spectrometric methods offer unique capability of rapid isotopic ratios measurements. Plasma techniques have found wide applications in analysis of geological, environmental and clinical samples. They have proved to be very useful in speciation studies due to extremely low sensitivities offered and the ease of on-line combination with separation techniques, in particular with chromatography. A brief review of ICP-AES and ICP-MS techniques is presented in the paper. The possibility and limitations of the techniques as analytical tools are discussed. The most important analytical parameters are collected in Table 1. Detailed characteristics of equipment used: sample introduction systems, analyzers and detectors are given. The discussion of experimental parameters, including the choice of analytical wavelengths (ICP-AES) and isotopes (ICP-MS), is presented. The main physical, matrix, chemical and spectral interferences occurring in analysis of real samples are characterized.

Słowa kluczowe

PL

plazma sprzężona indukcyjnie; technika ICP-AES i ICP-MS; analiza instrumentalna

EN

inductively coupled plasma; instrumental analysis

• Wydawca: Polskie Towarzystwo Chemiczne
• Czasopismo: Wiadomości Chemiczne
• Rocznik: 2002
• Tom: [Z] 56, 5-6
• Strony: 493--521
• Opis fizyczny: wykr., bibliogr. 56 poz.

Twórcy

autor

Skrzydlewska E.

• Katedra Chemii Analitycznej, Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej ul. Noakowskiego 3, 00-664 Warszawa

autor

Balcerzak M.

• Katedra Chemii Analitycznej, Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej ul. Noakowskiego 3, 00-664 Warszawa

autor

Pasławski P.

• Katedra Chemii Analitycznej, Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej ul. Noakowskiego 3, 00-664 Warszawa

• Katedra Chemii Analitycznej, Wydział Chemiczny Politechniki Warszawskiej ul. Noakowskiego 3, 00-664 Warszawa

Bibliografia

• [1] J.W. Olesik. Anal. Chem., 1996, 68, 469A.
• [21 A. Kordus, Plazma. Właściwości i zastosowania w technice, WNT, Warszawa 1985.
• [3] A. Sanz-Medel, Microchim. Acta, 1991II, 265.
• [4] J.A.C. Broekaert, Microchim. Acta, 1995,120, 21.
• [5] J. Marshall, S. Chenery, E.H. Evans, A. Fisher, J. Anal. At. Spectrom., 1998,13, 107R.
• [6] E.H. Evans, S. Chenery, A. Fisher, J. Marshall, K. Sutton, J. Anal. At. Spectrom., 1999, 14, 977.
• [7] A.L. Burlingame. R.K. Boyd, SJ. Gaskell, Anal. Chem., 1998, 70, 647R.
• [8] Praca zbiorowa (red. E. Bulska i K. Pyrzyńska), Zastosowanie metod spektrometrii atomowej w przemyśle i ochronie środowiska, Komisja Analitycznej Spektrometrii Atomowej, Komitet Chemii Analitycznej PAN, Warszawa 1999.
• [9] F. Vanhaecke, L. Moens, Fresenius’ J. Anal. Chem., 1999, 364, 440.
• [10] J.R. Bacon, J. Crain, L. van Vaeck, J. G. Williams, J. Anal. At. Spectrom., 1999,14, 1633.
• [11] C. Moor, W. Devos, M. Guecheva, J. Kobler, Fresenius’ J. Anal. Chem., 2000, 366, 159.
• [12] J.A.C. Broekaert, Fresenius’ J. Anal. Chem., 2000, 368, 15.
• [13] S. Greenfield, l.L. Jones, C.T. Berry, Analyst, 1964, 89, 713.
• [14] G.W. Dickinson, V.A. Fassel, Anal. Chem., 1969, 41, 1021.
• [15] A.L. Gray, Dyn. Mass Spectrom., 1978, 5, 106.
• [16] Praca zbiorowa (red. A. Kabata-Pendias i B. Szteke), Problemy jakości analizy śladowej w badaniach środowiska przyrodniczego, PIOŚ, Warszawa 1998.
• [17] J.C. Miller, J.N. Miller, Statistics for Analytical Chemistry, Ellis Horwood, Chichester 1993.
• [18] C.B. Boss, K.J. Fredeen, Podstawy, aparatura i metodyka atomowej spektrometrii emisyjnej z plazmą wzbudzoną indukcyjnie, tłum. E. Bulska, Perkin Elmer, 1989.
• [19] L.B. Allen, P.H. Siitonen, H.C. Thompson, Jr., J. Anal. At. Spectrom., 1998,13, 735.
• [20] B. Budic, J. Anal. At. Spectrom., 1998,13, 869.
• [21] X.-D. Tian, Z.-X. Zhuang, B. Chen, X.-R. Wang, Analyst, 1998,123, 627.
• [22] Y.-L. Feng, H.-W. Chen, H.-Y Chen, L.-C. Tian, Fresenius’ J. Anal. Chem., 1998,361, 155.
• [23] P. Pohl, W. Żyrnicki, Anal. Chim. Acta, 2001, 429, 135.
• [24] U. Schäffer, V. Krivan, Anal. Chem., 1998, 70, 482.
• [25] K. Ohls, B. Hustch, Inf. News., 1986, 12, 170.
• [26] Y.S. Choi, S.C. Lee, H.S. Im, C.J. Park, Microchem. J., 1999, 63, 24.
• [27] T. Ishizuka, Y. Uwamino, Spectrochim. Acta, Part B, 1983, 38, 519.
• [28] T. Kozłowski, A. Ramsza, Analityka, 2000, 4, 8.
• [29] Jobin Yvon, Instrukcja obsługi „JY70 Plus Geoplasma”, 1990.
• [30] G. de Loos, L. Gras presented at 25th FACSS, Austin, TX, USA, 1998.
• [31] G.E.M. Hall, J.C. Pelchat, J. Loop, J. Anal. Atom. Spectrom., 1990, 5, 339.
• [32] I. Rodushkin, T. Ruth, A. Huhtasaari, Anal. Chim Acta, 1999, 378,191.
• [33] L. Perring, M. Alonso, D. Andrey, B. Bourqui, P. Zbinden, Fresenius’ J. Anal. Chem 2001 370, 76.