Elektrochemiczne właściwości stałych warstw z udziałem fulerenów

Winkler, Krzysztof; Płońska, Marta E.

Artykuł - szczegóły

Tytuł artykułu

Elektrochemiczne właściwości stałych warstw z udziałem fulerenów

Autorzy

Winkler Krzysztof , Płońska Marta E.

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma

Identyfikatory

Warianty tytułu

Electrochemical properties of fullerene based solid thin layers

Języki publikacji

Abstrakty

This paper reviews the results of the investigation of electrochemical properties of fullerenes and their derivatives in solid state. These systems can be divided into three groups: (i) crystalline thin films, (ii) non-crystalline Langmuir-Blodgett (LB) films and self-assembled monolayers (SAM), (iii) fullerene-based polymers. The electrochemical behaviour of crystalline films of fullerenes is very different from that of dissolved species. The method of the film preparation strongly influences the redox properties and morphology of the film. Fullerene films are composed of small crystallites. The layers grown upon vapour deposition and electrocrystallisation are more uniform than the solution (solvent)-cast films. The redox behaviour of crystalline fullerene films in polar solvents is mainly affected by the size of supporting electrolyte cations. For small cations of alkali and alkaline-earth metals a rapid deterioration in the electrochemical properties of fullerene films is observed during repeated potential cycling. This behaviour of the layer is attributed to the formation of an electrochemically inactive cation intercalated compound or dissolution of the fullerene salt. The manipulation of the time window of experiment and the solvent nature can favour one of the above processes over the other.(...) The voltammetric behaviour of LB films and SAMs containing fullerenes and their derivatives are less influenced by the medium. A much smaller structural reorganization upon electrochemical reactions is observed. Redox properties of the fullerene moieties in these structures are similar to these observed in solution. Tightly packed C(60) containing self-assembled layers exhibit resistive behaviour due to the resistance to ion incorporation. (... ) The polymeric network can also be formed through a copolymerization that utilises the formation of covalent bonds, between transition metal complexes and fullerenes. These films are insoluble in common organic solvents and adhere strongly to the electrode surface. They display very stable redox behaviour due to the presence of fullerene moieties in their structures. A significant decrease in resistivity in the potential region in which it is reduced is also observed. The rlrctrochemical switching between the doped (conducting) and undoped (non-conducting) states involves both electron and ion transport within the film. The overall control of charge percolation through electroactive material is governed by the transport of ions. Laser ablation of some of these electrochemically formed layers results in the formaton of C(59-2n)M (M=Pt and Ir) clusters.

Słowa kluczowe

elektrochemia fulereny warstwa krystaliczna fulerenowa polimer fulerenowy

Wydawca

Polskie Towarzystwo Chemiczne

Czasopismo

Wiadomości Chemiczne

Rocznik

1999

Tom

[Z] 53, 11-12

Strony

823--870

Opis fizyczny

Bibliogr. 146 poz., fot., wykr.

Twórcy

autor

Winkler Krzysztof

Instytut Chemii, Uniwersytet w Białymstoku al. Piłsudskiego 11/4 15-443 Białystok

autor

Płońska Marta E.

Instytut Chemii, Uniwersytet w Białymstoku al. Piłsudskiego 11/4 15-443 Białystok

Instytut Chemii, Uniwersytet w Białymstoku al. Piłsudskiego 11/4 15-443 Białystok

Bibliografia

[1] R. C. Haddon, L. E. Brus, K. Raghavachari, Chem. Phys. Lett., 1986, 125, 459.
[2] Q. Xie, E. Perez-Cordero, L. Echegoyen, J. Am. Chem. Soc., 1992, 114, 3978.
[3] K. Meerholz, P. Tschunscky, J. Heinze, J. Electroanal. Chem., 1993, 347, 425.
[4] F. Zhou, C. Jehoulet, A. J. Bard, J. Am. Chem. Soc., 1992, 114, 11004.
[5] T. Ohsawa, T. Saji, J. Chem. Soc. Chem. Commun., 1992, 781.
[6] T. Fuchigami, M. Kasuga, A. Konno, J. Electroanal. Chem., 1996, 411, 115.
[7] F. D’Souza, J. Choi, W. Kutner, J. Phys. Chem., 1998, 102, 4247.
[8] W. R. Fawcett, M. Opallo, M. Fedurco, J. W. Lee, J. Electroanal. Chem., 1993,344,375.
[9] W. R. Fawcett, M. Opallo, M. Fedurco, J. W. Lee, J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 196.
[10] M. V. Mirkin, L. O. S. Bulhoes, A. J. Bard, ibid., 1993, 115, 201.
[11] A. F. Hebard, Physics Today, 1992, 45, 26.
[12] R. C. Haddon, A. F. Hebard, M. J. Rosseinsky, D. W. Murphy, S. J. Duclos, K. B. Lyons, B. Miller, J. M. Rosamilia, R. M. Fleming, A. R. Kortan, S. H. Glarum, A. V. Makhija, A. J. Muller, R. H. Eick, S. M. Zahurak, R. Tycko, G. Dabbagh, F. A. Thiel, Nature, 1991, 350, 320.
[13] A. F. Hebard, M. J. Rosseinsky, R. C. Haddon, D. W. Murphy, S. H. Glarum, T. T. M. Palstra, A. P. Ramirez, A. R. Koran, ibid., 1991, 350, 600.
[14] K. Tanigaki, T. W. Ebbsen, S. Saito, J. Mizuki, J. S. Tsai, Y. Kubo, S. Kuroshima, ibid., 1991, 352, 1417.
[15] P. J. Benning, J. L. Martins, J. H. Weaver, L. P. F. Chibente, R. E. Smalley, Science, 1991, 252, 1417.
[16] S. Chakravarty, M. P. Gelfend, S. Kivelson, ibid., 1991, 254, 970.
[17] A. M. Rao, P. Zhou, K.-A. Wang, G. T. Hager, J. M. Holden, Y. Wang, W. T. Lee, X.-X. Bi, P. C. Eklund, D. S. Cornett, M. A. Duncan, I. J. Amster, ibid., 1993, 259, 955.
[18] C. Yeretzian, K. Hansen, F. N. Diederich, R. L. Whetten, Nature, 1992, 359, 44.
[19] Y. B. Zhao, D. M. Poirier, R. J. Pechman, J. H. Weaver, Appl. Phys. Lett., 1994, 64, 577.
[20] H. Yamawaki, M. Yoshida, Y. Kakudate, S. Usuba, H. Yokoi, S. Fujiwara, K. Aoki, R. Ruoff, R. Malhotra, D. C. Lorents, J. Phys. Chem., 1993, 97, 11161.
[21] A. M. Rao, M. Menon, K. A. Wang, P. C. Eklund, K. R. Subbaswamy, D. S. Cornett, M. A. Duncan, I. J. Amster, Chem. Phys. Lett., 1994, 224, 106.
[22] Y. Chen, Z.-E. Huang, R-F. Cai, B.-C. Yu, Eur. Polym. J., 1998, 34, 137.
[23] H. Nagashima, A. Nakaoka, S. Tujima, Y. Saito, K. Itoh, Chem. Lett., 1992, 1361.
[24] T. Benincori, E. Brenna, F. Sannicolo, L. Trimarco, G. Zotti, P. Sozzani, Angew. Chem. Int. Engl., 1996, 35, 648.
[25] Y. Chen, R. F. Cai, Z. E. Huang, S. M. Chen, X. M. Yan, Solid State Commun., 1996, 60, 573.
[26] Y. Chen, Z. E. Huang, R. F. Cai, J. Polym. Sei. B, Polym. Phys., 1996, 34, 631.
[27] J. Heinze, Topics in Current Chemistry, VoL 152, Springer Verlag Berlin 1990, 1.
[28] P. W. Stephens, L. Mihaly, P. L. Lee, R. L. Whetten, S. M. Huang, R. Kaner, F. N. Diederich, K. Holczer, Nature, 1991, 351, 631.
[29] A. R. Kortan, N. Kopylov, S. H. Glarum, E. M. Gyorgy, A. P. Ramirez, R. M. Fleming, F. A. Thiel, R. C. Haddon, ibid., 1992, 355, 529.
[30] G. B. Vaughan, P. A. Heiney, J. E. Fischer, D. E. Luzzi, D. A. Rickett-Foot, A. R. McGhie, Y. W. Hui, A. L. Smith, D. E. Cox, W. J. Romanow, B. H. Allen, N. Coustel, J. P. McCauley, Jr., A. B. Smith III, Science, 1991, 254, 1350.
[31] M. A. Verheijen, H. Meekes, G. Meijer, P. Bennema, J. L. de Boer, S. Van Smaalen, G. V. Tendeloo, S. Amelinckx, S. Muto, J. Van Landuyt, Chem. Phys., 1992, 166, 287.
[32] D. M. Poirier, D. W. Owens, J. H. Weaver, Phys. Rev. B., 1995, 51, 1830.
[33] Q. Zhu, O. Zhou, J. E. Fischer, A. R. McGie, W. J. Romanow, R. M. Strongin, M. A. Cichy, A. B. Smith III, ibid., 1993, 47, 13948.
[34] G. Zhu, O. Zhou, N. Cost el, G. B. M. Vaughan, J. P. McCauley, Jr., W. J. Romanow, J. E. Fischer, A. B. Smith III, Science, 1991, 254, 545.
[35] P. W. Stephens, L. Mihaly, J. B. Wiley, S.-M. Huang, R. B. Kaner, F. N. Diederich, R. L. Whetten, K. Holczer, Phys. Rev. B, 1992, 45, 543.
[36] O. Zhou, J. E. Fischer, N. Costel, S. Kycia, Q. Zhu, A. R. McGie, W. J. Romanow, J. P. McCauley, Jr., A. B. Smith III, D. E. Cox, Nature, 1991, 351, 462.
[37] T. Ichihashi, K. Tanigaki, T. W. Ebbesen, S. Kuroshima, S. Iijima, Chem. Phys. Lett., 1992, 190, 179.
[38] K. Tanigaki, T. Ichihashi, T. W. Ebbesen, S. Kuroshima, S. Iijima, H. Hiura, H. Takahashi, Proc. Mater. Res. Symp., 1992, 247, 321.
[39] Y. Z.. Li, M. Chander, J. C. Patrin, J. H. Weaver, L. P. F. Chibante, R. E. Smalley, Science, 1991, 253, 429.
[40] W. M. Tong, D. A. A. Ohlberg, H. K. You, R. S. Williams, S. J. Anz, M. M. Alvarez, R. L. Whetten, Y. Rubin, F. N. Diederich, J. Phys. Chem., 1991, 95, 4709.
[41] Y. Z. Li, M. Chander, J. C. Patrin, J. R Weaver, L. P. F. Chibante, R. E. Smalley, Phys. Rev. B, 1992, 45, 13837.
[42] S. Howells, T. Chen, M. Gallagher, D. Sarid, D. L. Lichtenberg, L. L. Wright, C. D. Ray, D. R Huffman, K. D. Lamb, Surface Science, 1992, 274, 141.
[43] E. I. Altman, R. J. Colton, ibid., 1992, 279, 49.
[44] T. Chen, S. Howells, M. Gallagher, D. Sarid, L. D. Lamb, D. R. Huffman, R. K. Workman, Phys. Rev. B, 1992, 45, 14411.
[45] E. J. Synder, M. S. Anderson, W. M. Tong, R. S. Williams, S. J. Anz, M. M. Alvarez, Y. Rubin, F. N. Diederich, R. L. Whetten, Science, 1991, 253, 171.
[46] K. Tanigaki, S. Kuroshima, T. W. Ebbesen, Thin Solid Films, 1995, 257, 15-4.
[47] D. A. Buttry, Electroanalytical Chemistry, Vol. 17, A. J. Bard (red.), Marcel Dekker, New York 1991, 1.
[48] T. Tatsuma, S. Kikuyama, N. Oyama, J. Phys. Chem., 1993, 97, 12067.
[49] W. Koh, D. Dubois, W. Kutner, T. M. Jones, K. M. Kadish, ibid., 1992, 96, 4163.
[50] W. Koh, D. Dubois, W. Kutner, T. M. Jones, K. M. Kadish, ibid., 1993, 97, 6871.
[51] F. Zhou, S. L. Yau, C. Jehoulet, D. A. Laude, Jr., Z. Guan, A. J. Bard, ibid., 1992, 96, 4160.
[52] N. Oyama, T. Tatsuma, S. Kikuyama, J. Electroanal. Chem., 1994, 379, 523.
[53] C. Jehoulet, Y. S. Obeng, Y.-T. Kim, F. Zhou, A. J. Bard, J. Am. Chem. Soc., 1992, 114, 4237.
[54] M. Nishizawa, T. Matsue, I. U chid a, J. Electroanal. Chem., 1993, 353, 329.
[55] J. Heinze, A. Smie, Fullerenes. Recent Advances in the Chemistry and Physics of Fullerenes and Related Materials, K. M. Kadish, R. S. RuofT (red.), The Electrochemical Society, Inc., Pennington 1994, 1117.
[56] M. Nishizawa, K. Tomura, T. Matsue, I. Uchida, J. Electroanal. Chem., 1994,379,233.
[57] K. Tomura, M. Nishizawa, D. Takemura, T. Matsue, I. Uchida, Chem. Lett., 1994, 1365.
[58] C. A. Foss, Jr., D. L. Feldheim, D. R. Lawson, P. K. Dorhout, C. M. Elliott, C. R. Martin, B. A. Parkinson, J. Electrochem. Soc., 1993, 140, L84.
[59] B. Miller, J. M. Rosamilia, J. Chem. Soc., Faraday Trans., 1993, 89, 273.
[60] D. Billaud, S. Lemont, J. Chanbaja, Synt. Met. 1995, 70, 1371.
[61] D. Djurado, M. Barral, Y. Chabre, J. E. Fisher, NATO ASI Ser., Ser. B, 1993,305, 255.
[62] S. Lemont, J. Chanbaja, D. Billaud, Mater. Res. Bull., 1994, 29, 465.
[63] Y. Chabre, D. Djurado, M. Barrai, Mol. Cryst. Liq. Cryst. Sei. Technol., Sect. A, 1994, 245, 307.
[64] D. Dubois, M. T. Jones, K. M. Kadish, J. Am. Chem. Soc., 1992, 114, 6446.
[65] M. M. Khaled, R. T. Carlin, P. C. Trulove, G. R. Eaton, S. S. Eaton, ibid., 1994, 116, 3465.
[66] P. D. W. Boyd, P. Bhyrappa, P. Paul, J. Stinchcombe, R. D. Bolskar, Y. Sun, C. A. Reed, ibid., 1995, 117, 2907.
[67] J. Steinchcombe, A. Panicaud, P. Bhyrappa, P. D. W. Boyd, C. A. Reed, ibid., 1993, 115, 5212.
[68] P. N. Keizer, J. R. Morton, K. F. Preston, A. K. Sugden, J. Phys. Chem., 1991,95, 7117.
[69] H. Araki, N. Yamasaki, T. Kawai, A. Zakhidov, K Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2, 1993, 32, L498.
[70] H. Araki, N. Yamasaki, T. Kawai, A. Zakhidov, K. Yoshino, ibid., Part 2, 1993, 32, L1229.
[71] K. Kaneto, M. Mizue, W. Takashima, Synth. Met., 1993, 56, 3080.
[72] Y. Zhang, Y. Du, J. R. Shapley, M. J. Weaver, Chem. Phys. Lett., 1993, 205, 508.
[73] Y. Zhang, G. Edens, M. J. Weaver, J. Am. Chem. Soc., 1991, 113, 9395.
[74] S. 1. Cordoba de Torresi, R. M. Torresi, G. Ciampi, C. A Luengo, J. Electroanal. Chem., 1994, 37, 283.
[75] J. D. Klein, A. Yen, R- D. Rauh, S. L. Clauson, Appl. Phys. Lett., 1993, 63, 599.
[76] C. Jehoulet, A. J. Bard, F. Wudl, J. Am. Chem. Soc., 1991, 113, 5456.
[77] B. Miller, J. M. Rosamilia, G. Dabbagh, R. Tycko, R. C. Haddon, A. J. Muller, W. Wilson, D. W. Murphy, A. F. Hebard, ibid., 1991, 113, 6291.
[78] L. Seger, L. Q. Wen, J. B. Schlenoff, J. Electrochem. Soc., 1991. 138, L81.
[79] R. G. Compton, R. A. Spackman R. G. Wellington, M. L. H. Green, J. Turner, J. Electroanal. Chem., 1992, 327, 337.
[80] R- G. Comptom, R. A. Spackman, D. J. Riley, R. G. Wellington, J. C. Eklund. A. C. Fisher, M. L. H. Green, R. E. Doothwaite, A. H. H. Stephens, J. Turner, ibid., 1993, 344, 235.
[81] A. L. Balch, D. A. Costa, W. R. Fawcett, K. Winkler, ibid., 1997, 427, 137.
[82] K. Winkler, D. A. Costa, A L. Balch, W. R. Fawcett, ibid., 1998, 456, 229.
[83] W.-J. Wang, H.-S. Chiu, L.-J. Yu, B.-C. Wang, Synth. Met., 1995, 70, 1439.
[84] W.-J. Wang, H.-S. Chiu, L.-J. Yu, B.-C. Wang, ibid., 1995, 70, 1465.
[85] T. Atake, T. Tanaka, H. Kawij, K. Kikuchi, K. Saito. S. Suuki, Y. Achiba, 1. Ikemoto, Chem. Phys. Lett., 1992, 196, 321.
[86] J. Milliken, T. M. Keller, A. P. Baranovski, S. W. McElvany, J. H. Callahan, H H. Nelson, Chem. Mater., 1991, 3, 386.
[87] F.-X. Cheng, N.-Q. Li, W.-J. He, Z.-N. Gu, X.-H. Zhou. Y.-L. Sun, Y.-Q. Wu, J. Elec¬troanal. Chem., 1996, 408, 101.
[88] P. M. Allemond, G. Sardanov, A. Koch, K. Khemani, F. Wudl, Y Rubin, F. Die¬derich, M. M. Alvarez, S. J. Anz, R. L. Whetten, J. Am. Chem. Soc., 1991, 113, 2780.
[90] H. Moriyama,H. Kobayashi, A. Kobayashi, T. Watanabe. J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 1185.
[91] A. Penicaud, A. Perez-Benitez, R. Gleason, V. E. Munoz, P. R. Escudero, ibid., 1993, 115, 10392.
[92] U. Bilow, M. Jansen, J. Chem. Soc. Chem. Commun., 1994, 403.
[93] A. Penicaud, A. Perez-Benitez, P. R. Escudero, C. Coulon, Solid State Commun., 1995, 96, 147.
[94] L. O. S. Bulhoes, Y. S. Obeng, A. J. Bard, Chem. Mater., 1993, 5, 110.
[95] L. M. Goldenberg, G. Williams, M. R. Bryce, A. P. Monkman, M. C. Petty. A. Hirsch, A. Soil, J. Chem. Soc., Chem. Commun., 1993, 1310.
[96] K. Winkler, D. A. Costa, W. R. Fawcett, A. L Balch, wyniki nie publikowane.
[97] A. Szucs, A. Loix, J. B. Nagy, L Lambers, J. Electroanal. Chem., 1995, 397, 191.
[98] A. Szucs, A. Loix, J. B. Nagy, L. Lambers, ibid., 1996, 402, 137.
[99] A. Szucs, A. Loix, J. B. Nagy, L. Lambers, Synth. Met., 19%, 77, 227.
[100] A. Szucs, A. Loix, J. B. Nagy, L. Lambers, J. Electroanal. Chem., 1996, 419, 39.
[101] A. Szucs, A. Loix, J. B. Nagy, L. Lambers, ibid., 1997, 429, 27.
[102] A. Szucs, M. Tolgyesi, M. Csiszar, J. B. Nagy, M. Novak, ibid., 1998, 442, 59.
[103] J. Chlistunoff, D. Cliffel, A. J. Bard, Thin Solid Films, 1995, 257, 166.
[104] F. Okino, S. Yajima, S. Suganuma, R. Mitsumoto, K. Seki, H. Touhara, Synth. Met., 1995, 70, 1447.
[105] Y. Matsuo, T. Nakajima, Electrochim. Acta, 1996, 41, 15.
[106] J. J. Davis, H. A. O. Hill, A. Kurz, A. D. Leighton, A. Y. Safronov, J. Electroanal. Chem., 1997, 429, 7.
[107] D. E. Cliffel, A. J. Bard, S. Shinkai, Anal. Chem., 1998, 70, 4146.
[108] J. Miliken, D. D. Dominguez, H. H. Nelson, W. R. Barger, Chem. Mater., 1992, 4, 4237.
[109] T. Nakamura, H. Tachibana, M. Yumura, M. Matsumoto, R. Azumi, M. Tanaka, Y. Kawabata, Langmuir, 1992, 8, 4.
[110] J. Guo, Y. Xu, Y. Li,C. Yang, Y. Yao, D. Zhu, C. Bai, Chem. Phys. Lett., 1992, 195,625.
[111] R. Back, R. B. Lennox, J. Phys. Chem., 1992, 96, 8149.
[112] W. B. Caldwell, C. Chen, C. A. Mirkin, S. J. Babinec, Langmuir, 1993, 9, 1945.
[113] K. Winkler, Wiad. Chem., 1999, 53,
[114] K. Chen, W. B. Caldwell, C. A. Mirkin, J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 1193.
[115] F. Arias, L. A. Godinez, S. R. Wilson, A. E. Kaifer, L. Echegoyen, ibid., 1996, 118, 6086.
[116] T. Nakanishi, H. Murakami, T. Sagara, N. Nakashima, J. Phys. Chem., 19199, 103, 304.
[117] M. S. Dresselhaus, G. Dresseihaus, P. C. Eklund, Science of Fullerenes and Carbon Nanotubes, Academic Press, San Diego 1995.
[118] N. Takahashi, H. Dock, N. Matsuzawa, M. Ata, J. Appl. Phys., 1993, 74, 5790.
[119] K. E. Geckeler, A. Hirsh, J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 3850.
[120] S. Y. Kuwashima, M. Kubota, K. Kushida, T. Ishida, M. Ohashi, T. Nogami, Tetrahedron Lett., 1994, 35, 4371.
[121] A. O. Patil, G. W. Schriver, B. Carstensen, R. D. Lundberg, Polym. Bull., 1993, 30, 187.
[122] Y. Chen, R. F. Cai, Z. E. Huang, S. Q. Kong, ibid., 1995, 35, 705.
[123] Y. Chen, Z. E. Huang, R. F. Cai, S. Q. Kong, S. M. Chen, Q. F. Shao, X. M. Yan, F. L. Zhao, D. Z. Fu, J. Pol. Sci. A, Polym. Chem., 1996, 34, 3297.
[124] Y. Chen, Z. E Huang, R. F. Cai, B. C. Yu, W. W. Ma, S. M. Chen, Q. F. Shao, X. M. Yan, Y. F. Huang, Eur. Polym. J., 1997, 33, 291.
[125] D. A. Loy, R. A. Assink, J. Am. Chem. Soc., 1992, 114, 3977.
[126] T. Benincori, E. Brenna, F. Sannicolo, L. Trimarco, G. Zotti, P. Sozzani, Angew. Chem. Int. Ed. Engl., 1996, 35, 648.
[127] A Doronzier, J.-C Moutet, P. Seta, J. Am. Chem. Soc., 1994, 116, 5019.
[128] P. W. Stephens, B. Bortel, G. Feigel, M. Tegze, A. Janossy, S. Pekker, G. Oszlanyi, L. Forro, Nature, 1994, 370, 636.
[129] S. Pekker, A. Janossy, L. Mihaly, O. Chauvet, L. Forro, Science, 1994, 256, 1077.
[130] S. Pekker, L. Forro, L. Milhaly, A. Janossy, Solid State Commun., 1994, 90, 349.
[131] O. Chauvet, G. Oszlanyi, L. Forro, P. W. Stephens, M. Tegze, G. Faigel, A. Janossy, Phys. Rev. Lett., 1994, 72, 2721.
[132] P. Strasser, M. Ata, J. Phys. Chem. B, 1998, 102, 4131.
[133] M. Fedurco, D. Costa, A. L. Balch, W. R. Fawcett, Angew. Chem. Int. Ed. Engl., 1994, 34, 2071.
[134] K. Winkler, D. A. Costa, A. L. Balch, W. R. Fawcett, J. Phys. Chem., 1995, 99, 17431.
[135] K. Winkler, D. A. Costa, W. R. Fawcett, A. L. Balch, Adv. Mater., 1997, 9, 153.
[136] K. Winkler, D. A. Costa, A. L. Balch, W. R. Fawcett, Fullerenes. Recent Advances in the Chemistry and Physics of Fullerenes and Related Materials, Vol. 5, K. M. Kadish, R. S. Ruoff (red.), The Electrochemical Society, Inc., Pennington 1997, 44.
[137] A. L. Balch, D. A. Costa, K. Winkler, J. Am. Chem. Soc., 1988, 120, 9614.
[138] H. Nagashima, A. Nahaoka, Y. Saito, M. Kato, T. Kawanishi, K. Itoh, J. Chem. Soc. Chem. Commun., 1992, 377.
[139] K. Winkler, A. de Bettencoutr-Dias, A. L. Balch, wyniki nie publikowane.
[140] K. Winkler, A de Bettencoutr-Dias, A. L. Balch, Chem. Mater., 1999, 11, 2265.
[141] J. M. Poblet, J. Munoz, K. Winkler, M. Cancilla, A. Hayashi, C. B. Lebrilla, A. L. Balch, J. Chem. Soc. Chem. Commun., 1999, 493.
[142] A. P. Saab, G. D. Stucky, S. Passerini, W. H. Smyrl, Fullerene Sci. Tech., 1998, 6, 227.
[143] A. P. Saab, G. D. Stucky, Fullerene Sci. Tech., 1998, 6.
[144] A. P. Saab, M. Laub, V. I. Srdanov, G. D. Stucky, Adv. Mat., 1998, 10, 462.
[145] S. Kawabe, T. Kawai, R. Sugimoto, E. Yagasaki, K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., 1997, 36, L1055.
[146] P. L. Nayak, K. Yang, P. K. Dhal, S. Alva, J. Kumar, S. K. Tripathy, Chem. Mater., 1098, 10, 2058.

Uwagi

Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa nr SONP/SP/546092/2022 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2024).

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-BUS1-0005-0067