Transformacja usterek pamięci DRAM w błędy

• Autorzy: Busłowska E.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia wyniki badań określających zależności między typem usterki i typem testu a liczbą transformowanych błędów. Badania zostały przeprowadzone dla najczęściej używanych testów typu March i wykazują, w jaki sposób fizycznie występujące usterki są odzwierciedlane, w postaci błędów w sygnaturze testów krokowych.

Słowa kluczowe

PL

transformacja usterki; pamięć DRAM; testy typu March; sygnatura testów krokowych

• Wydawca: Wyższa Szkoła Informatyki i Umiejętności
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wyższej Szkoły Informatyki
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 3, Nr 1
• Strony: 37--47
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys.

Twórcy

autor

Busłowska E.

• Politechnika Białostocka, Wydział Informatyki ul. Wiejska 45A, 15-351 Białystok,

Bibliografia

• [1] Siemens Data Book, Siemens: Embedded DRAM solutions, 1998 pp. 32-37.
• [2] Goor van de A. J., Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice, John Whilley & Sons Ltd. Chichester, 1991, pp. 345-350.
• [3] Kebichi O., Nicolaidis M., Yarmolik V. N., Exact Aliasing Computation for RAM BIST, Proc IEEE Int. Test Conf., 1995 pp. 13-22.
• [4] Alves V. C., Nicolaidis M., Lestrat P., Courtois B., Built-in Self-Test for Multi-Port RAMs, Proc. IEEE Int. Conf. On Computer-Aided Design, ICCAD-91, 1991, pp. 248-251.
• [5] Yarmolik V. N., Hellebrand S., Wunderlich H. J., Self-Adjusting Output Data Compression: An Efficient BIST Technique for RAMs, Proc. Design, Automation and Test in Europe, 1998, pp. 173-179
• [6] Goor van de A. J., Smit B., Generating March tests Automatically, Proc IEEE Int. Test Conf., 1994. pp. 870-877
• [7] Bushnell M. L., Agrawal V. D., Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory & Mixed -signal VLSI Circuits, Kluwer Academic Publishers, 2001.
• [8] Goor van de A. J., Using march tests to test SRAMs, IEEE design & test of Computers, vol. 10, no. 1, 1993. pp. 8-14.
• [9] Marinescu M., Simple and Efficient Algorithm for Functional RAM Testing, Proc IEEE Int. Test Conf. Philadelphia, IEEE Computer Society, 1982, pp. 236-239.
• [10] Chi-Feng Wu, Chih-Tsun Huang, Chih-Wen Wang, Kuo-Liang Cheng, Cheng-Wen Wu, Error Catch and Analysis for Semiconductor Memories Using March Tests, Proc. IEEE Int. Conf. Computer-Aided Design (ICCAD), 2000, pp. 468-171.