Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Artykuł przedstawia wyniki badań określających zależności między typem usterki i typem testu a liczbą transformowanych błędów. Badania zostały przeprowadzone dla najczęściej używanych testów typu March i wykazują, w jaki sposób fizycznie występujące usterki są odzwierciedlane, w postaci błędów w sygnaturze testów krokowych.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
37--47
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., rys.
Twórcy
autor
- Politechnika Białostocka, Wydział Informatyki ul. Wiejska 45A, 15-351 Białystok, ebus@ii.pb.bialystok.pl
Bibliografia
- [1] Siemens Data Book, Siemens: Embedded DRAM solutions, 1998 pp. 32-37.
- [2] Goor van de A. J., Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice, John Whilley & Sons Ltd. Chichester, 1991, pp. 345-350.
- [3] Kebichi O., Nicolaidis M., Yarmolik V. N., Exact Aliasing Computation for RAM BIST, Proc IEEE Int. Test Conf., 1995 pp. 13-22.
- [4] Alves V. C., Nicolaidis M., Lestrat P., Courtois B., Built-in Self-Test for Multi-Port RAMs, Proc. IEEE Int. Conf. On Computer-Aided Design, ICCAD-91, 1991, pp. 248-251.
- [5] Yarmolik V. N., Hellebrand S., Wunderlich H. J., Self-Adjusting Output Data Compression: An Efficient BIST Technique for RAMs, Proc. Design, Automation and Test in Europe, 1998, pp. 173-179
- [6] Goor van de A. J., Smit B., Generating March tests Automatically, Proc IEEE Int. Test Conf., 1994. pp. 870-877
- [7] Bushnell M. L., Agrawal V. D., Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory & Mixed -signal VLSI Circuits, Kluwer Academic Publishers, 2001.
- [8] Goor van de A. J., Using march tests to test SRAMs, IEEE design & test of Computers, vol. 10, no. 1, 1993. pp. 8-14.
- [9] Marinescu M., Simple and Efficient Algorithm for Functional RAM Testing, Proc IEEE Int. Test Conf. Philadelphia, IEEE Computer Society, 1982, pp. 236-239.
- [10] Chi-Feng Wu, Chih-Tsun Huang, Chih-Wen Wang, Kuo-Liang Cheng, Cheng-Wen Wu, Error Catch and Analysis for Semiconductor Memories Using March Tests, Proc. IEEE Int. Conf. Computer-Aided Design (ICCAD), 2000, pp. 468-171.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BUJ8-0026-0023