PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

GaN - "High Pressure Semiconductor" in Modern Physics and Technology

Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Due to the strong binding energy of nitrogen molecule, GaN is unstable at high temperatures in relation to its constituents. Consequently, high temperature crystallization methods which are necessary for high quality bulk single crystals, require high pressures. GaN and its ternaries with In and Al form a foundation for the fast est growing sectors of semiconductor technology, such as short wave length optoelectronics and high-power high-frequency electronics. In this paper crystallization, physical properties and applications of GaN single crystals are discussed, with a special focus on the results coming from the Institute of High Pressure Physics of Polish Academy of Sciences.
Rocznik
Strony
1869--1890
Opis fizyczny
Bibliogr. 36 poz., rys.
Twórcy
autor
autor
Bibliografia
  • 1.   Utsumi W., Saitoh H., Kaneko H., Watanuki T., Aoki K. and Shimomura O., Nature Materials, 2, 735 (2003).
  • 2.   Nakamura S. and Fasol G., The Blue Laser Diode, 277-300, Springer-Yerlag, Berlin (1997).
  • 3.   Usui A., SunakawaH., Sakai A. and Yamaguchi A.A., Jpn. J. Appl. Phys., Part2,36, no7B, L899 (1997).
  • 4.   Skierbiszewski C., Wasilewski Z.R., Siekacz M., Feduniewicz A., Perlin P, Wiśniewski P., Borysiuk J.,Grzegory L, Leszczyński M., Suski T. and Porowski S., Appl. Phys. Lett., 86, 011114 (2005);Skierbiszewski C., Wiśniewski P., Siekacz M., Perlin P, Feduniewicz-Zmuda A., Nowak G., Grzegory L, Leszczyński M. and Porowski S., Appl. Phys. Len., 88, l (2006).
  • 5.   Perlin P. et al., in Proceedings of ISBLLED 2006, Montpellier 2006.
  • 6.   Van Vechten J.A., Phys. Rev., B7, 1479 (1973).
  • 7.   Karpinski J., Jun J. and Porowski S., J. Cryst. Growth, 66, l (1984).
  • 8.   Motoki K., Okahisa T., Sirota R., Nakahata S., Uematsu K. and Matsumoto N., J. Cryst. Growth, 305(2), 377 (2007).
  • 9.   Yoshikawa A., Oshima E., Fukuda T., Tsuji H. and Oshima K., J. Cryst. Growth, 260, 67 (2004).
  • 10.   Ketchum D.R. and Kolis J.W, J. Cryst. Growth, 222, 431 (2001).
  • 11.   Dwiliński R. - unpublished result, 2008.
  • 12.   Inoue T., Sęki Y., Oda O., Kurai S., Yamada Y. and Taguchi T., Jpn. J. Appl. Phys. 39, 2394 (2000).
  • 13.   Grzegory L, Ph. D. Thesis, „Conditions of crystallization of AIIIN compounds at high nitrogen pressure",Warszawa, 1995 (in Polish).
  • 14.   Krukowski S., Romanowski Z., Grzegory I. and Porowski S., J. Cryst. Growth, 189/190, 159 (1999).
  • 15.   Grzegory L, Boćkowski M. and Porowski S., in: Bulk Crystal Growth of Electronic, Optical & Optoelectronic Materials, ed. by P. Capper, UK (2005) 173-207, chap. 6.
  • 16. Neugebauer J. and Van de Walle C.G., Phys. Rev, B50, 8067 (1994).
  • 17. Krukowski S., Boćkowski M., Łucznik B., Grzegory L, Porowski S., Suski T. and Romanowski Z., J. Phys. Condensed Matter, 13, 8881 (2001).
  • 18. Saarinen K., Laine T., Kuisma S., J-Iautojarvi P., Dobrzyński L., Baranowski J.M., Pakuła K., Stępniewski R., Wojdak M., Wysmołek A., Suski T., Leszczyński M., Grzegory I. and Porowski S., Phys. Rev.Lett., 79, 3030 (1997).
  • 19.   Suski T., Jun J., Leszczyński M., Teisseyre H., Grzegory L, Porowski S., Dollinger G., Saarinen K.,Laine T., Nissila J., Burkhard W., Kriegseis W. and Meyer B.K., Mater. Sci. Eng., B59, l (1999).
  • 20.   Ogino T. and Aoki M., Jpn. J. Appl Phys., 19, 2395 (1980).
  • 21. Frayssinet E., Ph. D. Thesis, „Elaboration et etude d'heterojonctions GaN/AlGaN deposees sur GaN massif”, Universite Montpellier II, Montpellier 2000.
  • 22.   Weyher J.L., Muller S., Grzegory I. and Porowski S., J. Cryst. Growth, 182, 17 (1997)
  • 23.   Weyher J.L., Brown P.D., Rouviere J.L., Wosinski T, Zauner A.R.A. and Grzegory L, J. Cryst. Growth,210, 151 (2000).
  • 24.   Leszczyński M., Grzegory L, Teisseyre H., Suski T, Bockowski M., Jun J., Baranowski J.M., Porowski S. and Domagała J., J. Cryst. Growth, 169, 235 (1996).
  • 25.   Liliental-Weber Z., EMIS Datareview Series No 23, published by INSPEC, The Institution of Electrical Engineers, London, 230 (1999).
  • 26.   Tiller W.A., Jackson K.A., Rutter J.W. and Chalmers B., Acta Met. l, 428 (1953).
  • 27.   Łucznik B., Pastuszka  B., Grzegory  L, Bockowski  M., Kamler  G., Domagała  J., Nowak  G., Prystawko P, Krukowski S. and Porowski S., Phys. Stat. Sol., 3, 1453 (2006).
  • 28.   Nakamura S., Mukai T., Senoh M. and IwasaN., J. Appl Physics, Part 2 -Letters, 31, no. 2B, pp. L139 (1992).
  • 29. Amano H., Kito M., Hiramatsu K. and Akasaki L, Jpn. J. Appl Phys., 28, L139 (1989).
  • 30. Nakamura S., IEICE Trans., E83-C, n. 4, 529 (2000).
  • 31.   Porowski S., Grzegory L., Kolesnikov D., Łojkowski W, Jager V., Bogdanów V., Suski T. and Krukowski S., J. Phys. Condens. Matter, 14, l (2002).
  • 32.   Stolwijk N.A., Bokser N.A. and Popping J., 2001 Defect Diffusion Forum, 687, 194 (2001).
  • 33.   Ambacher O., Freudberg F., Dimitrov R., Angerer H. and Stutzman M., Jpn. J. Appl. Phys., 37, 2416 (1998).
  • 34. Koblmuller G., Fernandez-Garrido S., Calleja E. and Speck J., S.,Appl. Phys. Lett., 91,161904 (2007).
  • 35. Neugebauer J., Zywietz T.K., Scheffler M., Northrup J.E., Chen H. and Feenstra R.M., Phys. Rev. Lett.,90, 056101 (2003).
  • 36. Teisseyre H., Skierbiszewski C., Łucznik B., Kamler G., Feduniewicz A., Siekacz M., Suski T, Perlin P., Grzegory I. and Porowski S., Appl. Phys. Lett., 86, 162112 (2005).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BUJ6-0024-0145
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.