Skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu powierzchni

• Autorzy: Karpiński T. , Łukianowicz C. , Łukianowicz T.

Warianty tytułu

EN

Computerised stand for measurement and analysis of surface profile

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nierównosci powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji systemu pomiarowego oraz oprogramowanie umożliwiające analizę i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w środowisku programowym Borland delphi pozwala na pracę w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowywane w celu analizy topografii powierzchni.

EN

In the paper computerized stand for a measurement and analysis of surface profile is described. This stand contains stylus instrument, microcomputer, system of acquire of measuring signal and software. Software for MS Windows was works out using Borland Delphi. Using this stand , three-dimensional imaging od surface roughness is possible.

Słowa kluczowe

PL

pomiar powierzchni; profil powierzchni; nierówności powierzchni; profilometr; topografia powierzchni

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2000
• Tom: R. 46, nr 5
• Strony: 27--30
• Opis fizyczny: Bibliogr. 16 poz., rys.

Twórcy

autor

Karpiński T.

• Politechnika Koszlińska, Wydział Mechaniczny

autor

Łukianowicz C.

• Politechnika Koszlińska, Wydział Mechaniczny

autor

Łukianowicz T.

• Politechnika Koszlińska, Wydział Mechaniczny

Bibliografia

• [1] R. Górecka, Z. Polański: Metrologia warstwy wierzchniej. Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 1983.
• [2] J. Kaczmarek, T. Klimczak: Porównanie dwuwymiarowej oceny chropowatości powierzchni z ocena trójwymiarową. V Konferencja Naukowo-Techn.: Metrologia w procesach wytwarzania, Kraków 1994.
• [3] T. Karpiński, Cz. Łukianowicz: Niektóre problemy związane z trójwymiarową analizą nierówności powierzchni za pomocą komputera. Pomiary, Automatyka, Kontrola 1976, nr 9.
• [4] P. Kochaniewicz: Podstawy analizy komputerowej oceny chropowatości powierzchni. Sympozjum: Makro i mikrogeometria powierzchni. Wydawnictwa Politechniki Gdańskiej. Gdańsk 1990.
• [5] A. Konczakowska, A. Konczakowski: Algorytm widmowej analizy struktury geometrycznej powierzchni. Sympozjum: Metrologia '80, Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1980.
• [6] Cz. Łukianowicz: Układ do rejestracji topografii powierzchni technicznych. XVII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów, Wyd. WSInż. w Zielonej Górze, Zielona Góra 1985.
• [7] T. Miller: Przyrządy do pomiaru topografii powierzchni. Mechanik 1997, nr 12.
• [8] T. Miller: Wieloparametrowe skomputeryzowane urządzenia do pomiaru topografii powierzchni. VII Konferencja Naukowo-Techniczna: Metrologia w technikach wytwarzania maszyn, tom II, Kielce 1997.
• [9] B. Nowicki: Struktura geometryczna. Chropowatość i falistość powierzchni. Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 1991.
• [10] W. Pietrusewicz, R. Sierpiński: Weryfikacja wzorów do obliczeń promieni wzniesień profilów o charakterze losowym. Sympozjum: Makro i mikrogeometria powierzchni. Wyd. Politechniki Gdańskiej, Gdańsk 1990.
• [11] R. B. Randall: Frequency analysis. Bruel&Kjer, Nerum, Danmark 1977.
• [12] D. J. Whitehouse: Handbook of Surface Metrology. Institute of Physics Publishing. Bristol and Philadelphia 1994.
• [13] M. Wieczorowski, A. Cellary, J. Chajda: Charakterystyka chropowatości powierzchni. Przewodnik, Wydawnictwa Politechniki Poznańskiej, Poznań 1996.
• [14] M. Wieczorowski, A. Cellary, J. Chajda: Metody oceny topografii powierzchni w świetle zamierzeń normalizacyjnych. VII Konferencja Naukowo - Techniczna: Metrologia w technikach wytwarzania maszyn, tom II, Kielce 1997.
• [15] DIN 476271E: Oberflachenrauheit; Begriffe.
• [16] PN-87/M-04256/02: Struktura geometryczna powierzchni. Chropowatość powierzchni. Terminologia ogólna.