Podstawy pomiarów termowizyjnych. Część III: Problemy metrologiczne, interpretacja wyników

• Autorzy: Minkina W.

Warianty tytułu

EN

Thermovision measurement basics. Part III

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule opisano przydatne w praktyce, podstawowe zagadnienia problematyki pomiarów termowizyjnych. Wskazano na problemy związane z metrologiczną interpretacją uzyskanych wyników. Przeanalizowano właściwości kamer krótkofalowych (SWB-Short Wave Band) i długofalowych (LWB - Long Wave band). Opisano także budowę najczęściej obecnie stosowanego do celów badawczych studniowego, fotonowego detektora kwantowego QWIP (Quantum Well Infrared Photon detector) o najwyższej temperaturowej zdolności rozdzielczej. Artykuł stanowi kontynuację prac opublikowanych w numerze 1/2000 PAK.

EN

In the paper there are described practically useful, basic problems of thermovision measurements. Issues connected with metrological interpretation of obtained results are pointed out. Features of both types of cameras: short (SWB - Short Wave Band) and long (LWB - Long Wave Band) are analysed. The structure of the QWIP (Quantum Well Infrared Photon) detector, of the highest temperature resolution, which is now most commonly used for research purposes, is also described. The paper is continuation of works published in the 1/2000 issue of Pomiary Automatyka Kontrola.

Słowa kluczowe

PL

błędy pomiarów; pomiary temperatury; pomiary w podczerwieni; termografia

EN

uncertainties; temperature measurements; thermography; infrared measurements

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2001
• Tom: R. 47, nr 11
• Strony: 5--8
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys.

Twórcy

autor

Minkina W.

• Zakład Technik Mikroprocesorowych, Automatyki i Pomiarów Cieplnych, Wydział Elektryczny Politechniki Częstochowskiej

Bibliografia

• [1] W. Minkina, P. Rutkowski, W. Wild: Podstawy pomiarów termowizyjnych, cześć I istota termowizji i historia jej rozwoju oraz, część II - współczesne rozwiązania systemów termowizyjnych, błędy metody. Pomiary Automatyka Kontrola 46 (2000) Nr l, str.7-10 (cz.l) oraz str.11-14(cz.II).
• [2] W Minkina: Technika pomiarów w podczerwieni w procesach technologicznych, Materiały VI Sympozjum „Metrologia w Systemach Jakości - 3", Cedzyna koło Kielc, 16-18.10.2000, str. 187-202.
• [3] G. Rudowski: Termowizja i jej zastosowanie, WKiŁ, Warszawa. 1978.
• [4] X. Maldaque: Non destructive evaluation of materials by infrared thermography, London, Springer-Verlag, 1993.
• [5] PN-90/E-01005 „Technika świetlna, terminologia" Wydawnictwa Normalizacyjne, Warszawa, 1991.
• [6] B. Schenbach: A highly sensitive LW-QWIP camera for demanding applications" Materiały 6th Conference on Infrared Sensors & Systems (IRS2), Erfurt, 9-11.05.2000, str.87-91.
• [7] J.L. Tissot, F. Rothan, C. Vedel, M. Vilain, J.J. Yon: Uncooled IRFPA developments review, Quantitative InfraRed Thermography, 4 Conference QIRT'98, Łódź, 7-10.09.1998,
• [8] IR-BOOK, Materiały szkoleniowe Firmy FLIR, Level II (Infrared Training Center - itc, International), 2000.
• [9] K. Chrzanowski: Non-contact thermometry - Measurement errors, Wydawnictwo SPIE (Society of Photooptical Instrumentation Engineers) - oddział w Polsce, Warszawa 2000.
• [10] TECHNISCHES MESSEN, 66 (1999) Nr 3 oraz Nr 9, monotematyczne zeszyty pod redakcją G. Gerlacha, w całości poświęcone tematyce pomiarów termowizyjnych.