Mikrosystem do wektorowych pomiarów impedancji w szerokim zakresie częstotliwości

• Autorzy: Hoja J.

Warianty tytułu

EN

A microsystem for multifrequency measurement of impedance components

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono analizę metody pomiarowej parametrów impedancyjnych dwójnika, wykorzystującą sygnały proporcjonalne do prądu i napięcia na obiekcie mierzonym. Przeprowadzono analizę dokładności uwzględniającą rzeczywiste parametry toru pomiarowego składającego się z obwodu wejściowego, detektora fazoczułego i przetwornika analogowo-cyfrowego. Pozwoliła ona na optymalizację konstrukcji toru pomiarowego zrealizowanego mikrosystemu oraz weryfikację algorytmu pomiarowego, zapewniając minimalizację błędu wyznaczania mierzonych parametrów.

EN

The paper presents an accuracy analysis of RLC parameter component measuring technique taking advantage of signals proportional to the current and voltage of the element tested. The performed analysis takes into consideration the real parameters of the measuring system consisting of an input circuit, a synchronous detector, and an analog-difital converter. The applied method makes allowance for working out an optimized measurement microsystem design and verification of the measuring algorithm, which in consequence will minimize errors in the determination of the unknown parameters.

• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN SA
• Czasopismo: Metrologia i Systemy Pomiarowe
• Rocznik: 2000
• Tom: T. 7, z. 3
• Strony: 269--285
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys.

Twórcy

autor

Hoja J.

• Katedra Miernictwa Elektronicznego Politechniki Gdańskiej