Metoda pomiaru charakterystyki amplitudowo-częstotliwościowej układu sondy analizatora sygnałów cyfrowych

• Autorzy: Kern J.

Warianty tytułu

EN

The measurement method for determination of amplitude-frequency characteristics of digital signal analyzer probe circuit

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaprezentowano układ i metodę pomiarową dla wyznaczania charakterystyki amplitudowo-częstotliwościowej miniaturowej sondy, zastosowanej dla akwizycji sygnałów cyfrowych w analizatorze o rozproszonym układzie, opracowanym w Przemysłowym Instytucie Elektroniki. Przedstawione rozwiązanie jest przykładem techniki cyfrowego przetwarzania sygnałów i analizy FFT, używanych przy badaniach analogowych układów liniowych, dla oceny jakości narzędzi opracowanych dla diagnostyki systemów cyfrowych. Dokonano analizy błędów pomiarowych oraz porównano wyniki wyznaczania szerokości pasma sond biernych uzyskane tradycyjną metodą, opartą o pomiary czasów przełączeń, z proponowaną metodą wykorzystującą technikę cyfrowego przetwarzania odpowiedzi badanego układu na sygnał skoku napięciowego.

EN

In the paper, there is presented the system and the method for measurements of amplitude-frequency characteristics of miniature probe, applied for digital signal acquisition in a distributed analyser system, developed in the Industrial Institute of Electronics. This is the example of application and development of digital signal processing and FFT algorithms (used frequently for analogue linear circuits characterisation), also for measurements of diagnostic tool properties. The measurement errors were analysed, and comparison was done, between results obtained with traditional method, based on measurements of transition times, and with the proposed method, which apply digital signal processing of the circuit response to the step input signal.

• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN SA
• Czasopismo: Metrologia i Systemy Pomiarowe
• Rocznik: 2000
• Tom: T. 7, z. 3
• Strony: 255--268
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys.

Twórcy

autor

Kern J.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki