Metoda pomiaru charakterystyki amplitudowo-częstotliwościowej układu sondy analizatora sygnałów cyfrowych

• Autorzy: Kern J.

Warianty tytułu

EN

The measurement method for determination of amplitude-frequency characteristics of digital signal analyzer probe circuit

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaprezentowano układ i metodę pomiarową dla wyznaczania charakterystyki amplitudowo-częstotliwościowej miniaturowej sondy, zastosowanej dla akwizycji sygnałów cyfrowych w analizatorze o rozproszonym układzie, opracowanym w Przemysłowym Instytucie Elektroniki. Przedstawione rozwiązanie jest przykładem techniki cyfrowego przetwarzania sygnałów i analizy FFT, używanych przy badaniach analogowych układów liniowych, dla oceny jakości narzędzi opracowanych dla diagnostyki systemów cyfrowych. Dokonano analizy błędów pomiarowych oraz porównano wyniki wyznaczania szerokości pasma sond biernych uzyskane tradycyjną metodą, opartą o pomiary czasów przełączeń, z proponowaną metodą wykorzystującą technikę cyfrowego przetwarzania odpowiedzi badanego układu na sygnał skoku napięciowego.

EN

In the paper, there is presented the system and the method for measurements of amplitude-frequency characteristics of miniature probe, applied for digital signal acquisition in a distributed analyser system, developed in the Industrial Institute of Electronics. This is the example of application and development of digital signal processing and FFT algorithms (used frequently for analogue linear circuits characterisation), also for measurements of diagnostic tool properties. The measurement errors were analysed, and comparison was done, between results obtained with traditional method, based on measurements of transition times, and with the proposed method, which apply digital signal processing of the circuit response to the step input signal.

• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN SA
• Czasopismo: Metrologia i Systemy Pomiarowe
• Rocznik: 2000
• Tom: T. 7, z. 3
• Strony: 255--268
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys.

Twórcy

autor

Kern J.

• Przemysłowy Instytut Elektroniki, Warszawa

Bibliografia

• 1. Badźmirowski K., Gonera M., Kern J.: Diagnosis of Digital/Analog Measurement Systems with Application of Test Bus and Distributed Diagnostic Subsystem, Conference Proceedings IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference. St. Paul, Minnesota USA, May 18-21, 1998, ss. 490-495.
• 2. Kern J.: Concurrent diagnosis of digital measurement systems with application of embedded diagnostic subsystem and the JTAG test bus. IMEKO TC-4 Symposium on Development in Digital Measuring Instrumentation and 3rd Workshop on ADC Modelling and testing - September 17-18, 1998 - Naples-Italy, ss. 101-106.
• 3. Kern J., Lewandowski A.: Metoda współbieżnego badania parametrów cyfrowego systemu pomiarowego z zastosowaniem rozproszonego systemu diagnostycznego, Materiały Konferencyjne METROLOGIA ’98. Gdańsk, wrzesień 1998, T.3, ss. 60-67.
• 4. Badźmirowski K., Kern J.: The Issue of Diagnosis Quality, Applied to a Distributed System of Digital Signal Microanalyzers, equipped with Standard Test Ports, IMTC/99 Proceedings of the 16th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Venice, Italy, May 24-26, 1999, T. 1, ss. 220-224.
• 5. Measurements of Digital Signals, EB 208E Application Note, Texas Instruments.
• 6. Rydzewski J.: Pomiary oscyloskopowe, WNT, Warszawa 1990.
• 7. Cram R.S., Caravone A.J.: Deconvolution as a Feasible Alternative to the Root-Sum-Squares Rule for Non-Gaussian Transition Duration Analysis, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. IM-30, n. 1, March 1981, ss. 63-66.
• 8. Grove M.B.; Measuring Frequency Response and Effective Bits Using Digital Signal Processing Techniques. HP Journal. February 1992, ss. 29-35.
• 9. Souders T.M., Flach D.R.: Accurate Frequency Response Determination from Discrete Step Response Data. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. IM-36, n. 2, June 1987, ss. 433-439.
• 10. Gans W.: Dynamic Calibration of Waveform Recorders and Oscilloscopes Using Pulse Standards. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. 39, n. 6, December 1990, ss. 952-957.
• 11. Kern J.: Analiza wybranych aspektów diagnozowania współbieżnego cyfrowych systemów pomiarowych. Prace PIE, z. 136, 1999, ss. 5-61.