Krótkotrwałe narażenia elektromagnetyczne stosowane w testach badania podatności urządzeń technicznych, jednym z elementów oceny ich jakości

• Autorzy: Ruszel P.

Warianty tytułu

EN

Transistory electromagnetic exposures applied in immunity tests of technical devices - one of the elements of evaluation of their quality

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W publikacji omówiono podstawowe właściwości testów, w których ocenia się podatność urządzeń technicznych na krótkotrwałe impulsowe narażenia elektromagnetyczne. Podano podstawowe informacje o parametrach sygnałów stosowanych do procesu testowania oraz zasady ich wyboru ze względu na rodzaj testowanego urządzenia.

EN

Basic properties of the tests for evaluation of immunity of technical devices from transitory electromagnetic pulse exposure, are discussed in this publication. Some basic information on parameters of the signals applied in the testing process and principles of their selection considering type of the device being tested, is given.

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2001
• Tom: R. 47, nr 1
• Strony: 8--12
• Opis fizyczny: Bibliogr. poz. 2, rys., tab.

Twórcy

autor

Ruszel P.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Eklektroniki, Zakład Wydziałowy Miernictwa i Systemów Pomiarowych

Bibliografia

• 1. P. Ruszel: Zalecania normalizacyjne z zakresu kompatybilnosci elektromagnetycznej - barierą czy czynnikiem postępu dla krajowych producentów. PAK 8/1998, str. 306-309
• 2. P. Ruszel: Rola pomarów przy weryfikacji właściwości kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń technicznych. PAK 9/1998, str. 339-343.